ARS2000角分辨光譜儀是一款可變角度透反射便攜式現(xiàn)場測量光纖光譜儀，主要滿足客戶通過對光子晶體、超導(dǎo)材料等納米光學(xué)材料的反射率、透射率、吸收實現(xiàn)晶體的能帶、缺陷等特性的研究。此外也有很多薄膜材料、玻璃、光學(xué)元器件客戶采用ARS實現(xiàn)光學(xué)元器件特定角度下透過率、反射率的過程控制測量。\n配套的手動式透反射測量支架實現(xiàn)入射角度為0°~120°，接收角度為8°~180°的350nm~1050nm透射、......

ARS2000角分辨光譜儀是一款可變角度透反射便攜式現(xiàn)場測量光纖光譜儀，主要滿足客戶通過對光子晶體、超導(dǎo)材料等納米光學(xué)材料的反射率、透射率、吸收實現(xiàn)晶體的能帶、缺陷等特性的研究。此外也有很多薄膜材料、玻璃、光學(xué)元器件客戶采用ARS實現(xiàn)光學(xué)元器件特定角度下透過率、反射率的過程控制測量。

配套的手動式透反射測量支架實現(xiàn)入射角度為0°~120°，接收角度為8°~180°的350nm~1050nm透射、反射以及輻射光譜測量。

內(nèi)部集成的ARM嵌入式系統(tǒng)以及Uspectral Plus軟件，實現(xiàn)客戶在線測量。同時該系統(tǒng)配置Windows軟件，滿足客戶光譜分析的需求。

◆專業(yè)：滿足輻射、透射、反射、散射等檢測需求 ◆方便：易維護(hù)，體積小巧、性能穩(wěn)定，存放方便，易于使用 ◆*：配套功能*的專業(yè)軟件包◆存儲：可通過USB接口實現(xiàn)數(shù)據(jù)及時存儲

* 光譜儀可根據(jù)客戶需求定制光譜范圍、分辨率等參數(shù)

納米光學(xué)材料

通過對光子晶體、超導(dǎo)材料等納米光學(xué)材料的反射率、透射率、吸收實現(xiàn)晶體的能帶、缺陷等特性的研究。適用于鍍膜材料、光子晶體、液晶顯示、傳感器器件制備、角度材料相關(guān)分析等材料測試。

不同厚度的薄膜樣品角分辨折射光譜