ARS2000角分辨光譜儀是一款可變角度透反射便攜式現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量光纖光譜儀,主要滿足客戶通過(guò)對(duì)光子晶體、超導(dǎo)材料等納米光學(xué)材料的反射率、透射率、吸收實(shí)現(xiàn)晶體的能帶、缺陷等特性的研究。此外也有很多薄膜材料、玻璃、光學(xué)元器件客戶采用ARS實(shí)現(xiàn)光學(xué)元器件特定角度下透過(guò)率、反射率的過(guò)程控制測(cè)量。
配套的手動(dòng)式透反射測(cè)量支架實(shí)現(xiàn)入射角度為0°~120°,接收角度為8°~180°的350nm~1050nm透射、反射以及輻射光譜測(cè)量。
內(nèi)部集成的ARM嵌入式系統(tǒng)以及Uspectral Plus軟件,實(shí)現(xiàn)客戶在線測(cè)量。同時(shí)該系統(tǒng)配置Windows軟件,滿足客戶光譜分析的需求。
◆專業(yè):滿足輻射、透射、反射、散射等檢測(cè)需求 ◆方便:易維護(hù),體積小巧、性能穩(wěn)定,存放方便,易于使用 ◆*:配套功能*的專業(yè)軟件包◆存儲(chǔ):可通過(guò)USB接口實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)及時(shí)存儲(chǔ)
* 光譜儀可根據(jù)客戶需求定制光譜范圍、分辨率等參數(shù)
納米光學(xué)材料
通過(guò)對(duì)光子晶體、超導(dǎo)材料等納米光學(xué)材料的反射率、透射率、吸收實(shí)現(xiàn)晶體的能帶、缺陷等特性的研究。適用于鍍膜材料、光子晶體、液晶顯示、傳感器器件制備、角度材料相關(guān)分析等材料測(cè)試。

不同厚度的薄膜樣品角分辨折射光譜


















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