1、產(chǎn)品特點(diǎn)：

       PILATUS3 R 混合光子計(jì)數(shù)（HPC）探測(cè)器經(jīng)過(guò)重新設(shè)計(jì)，旨在實(shí)現(xiàn)的數(shù)據(jù)質(zhì)量。該系列探測(cè)器基于同步輻射技術(shù)，并融合了兩種關(guān)鍵技術(shù)：?jiǎn)喂庾佑?jì)數(shù)和混合像素技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了更好的實(shí)驗(yàn)室體驗(yàn)。 PILATUS3 R 系列進(jìn)一步*了我公司實(shí)驗(yàn)室用系列探測(cè)器的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)： DECTRIS 的即時(shí)觸發(fā)技術(shù)配合 PILATUS3 獨(dú)特的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，充分提升了計(jì)數(shù)率和計(jì)數(shù)率的準(zhǔn)確校正。

       PILATUS3 R 探測(cè)器的高計(jì)數(shù)率，使得其在處理高強(qiáng)度信號(hào)時(shí)顯示了獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。 DECTRIS 即時(shí)觸發(fā)技術(shù)可被用來(lái)準(zhǔn)確測(cè)量具有高強(qiáng)度衍射的樣品，如小分子或無(wú)機(jī)復(fù)合物樣品的高強(qiáng)度衍射峰。

       單光子計(jì)數(shù)可消除所有的探測(cè)器噪音，從而得到優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)相對(duì)于同步輻射，實(shí)驗(yàn)室中的X射線(xiàn)源要微弱得多，只能得到較為微弱的衍射信號(hào)，因此通常需要較長(zhǎng)的曝光時(shí)間。由于沒(méi)有暗電流和讀出噪音， PILATUS3 R 系列探測(cè)器比其它實(shí)驗(yàn)室用探測(cè)器具有更優(yōu)的性能。

       HPC 技術(shù)使得該系列探測(cè)器可直接探測(cè)X射線(xiàn)，比閃爍器探測(cè)器所產(chǎn)生的信號(hào)更為清晰。讀出時(shí)間短并能連續(xù)采集信號(hào)的 PILATUS3 R 系列探測(cè)器可高效輸出優(yōu)質(zhì)數(shù)據(jù)；較低的功耗和冷卻要求可確保您輕松使用并限度的減少維護(hù)工作量。

       PILATUS3 R 系列探測(cè)器專(zhuān)為您的實(shí)驗(yàn)室需求而量身定制，可提供的同步輻射成熟技術(shù)。具有獨(dú)特性能的PILATUS3 R 系列探測(cè)器，可助您從挑戰(zhàn)性的樣品中采集到質(zhì)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。

2、核心優(yōu)勢(shì)：

     – 可在單光子計(jì)數(shù)模式下直接探測(cè)X射線(xiàn)；

     – DECTRIS即時(shí)觸發(fā)技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)全程連續(xù)計(jì)數(shù)；

     – 的局部和整體計(jì)數(shù)率；

     – 準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率校正，可在計(jì)數(shù)率條件下獲得數(shù)據(jù)質(zhì)量；

     – 無(wú)讀出噪音和暗電流；

     – 出色的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)；

     – 高動(dòng)態(tài)范圍；

     – 讀出時(shí)間短，幀頻高。

 3、應(yīng)用領(lǐng)域：

     – 生物大分子晶體學(xué)（MX）；

     – 單晶衍射（SCD）；

     – X射線(xiàn)衍射（XRD）；

     – 小角和廣角X射線(xiàn)散射（SAXS/WAXS）；

     – 表面衍射；

     – 漫散射；

     – 時(shí)間分辨實(shí)驗(yàn)；

     – 成像；

     – 無(wú)損檢測(cè)。

4、技術(shù)參數(shù)：