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多功能超聲波測厚儀CMXDL+
美國DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測厚儀,帶A/B掃描功能,可測量材料的厚度,穿透涂層測量材料厚度,也可以測量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置。標(biāo)準(zhǔn)版為灰度顯示屏,可選彩屏版。
儀器特點
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100MHz FPGA時序電路設(shè)計可選彩色和灰度顯示屏 A/B掃描手動調(diào)節(jié)增益和自動增益控制 (AGC),范圍:110dB自動時間相關(guān)增益(TDG)多種測量模式脈沖-回波(P-E)模式:測量材料厚度脈沖-回波涂層(PECT)模式:同時測量材料和涂層厚度脈沖-回波溫度補償(PETP)模式:測量材料厚度回波-回波(E-E)模式:穿過涂層測量材料厚度回波-回波驗證(E-EV)模式: 穿過涂層測量材料厚度測量涂層(CT)模式:只測量涂層厚度可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭) USB Type-C數(shù)據(jù)接口內(nèi)置4GB SD存儲卡
技術(shù)參數(shù)
測量
脈沖-回波(P-E)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼),0.0254~2.54mm(涂層)脈沖-回波溫度補償(PETP)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)回波-回波(E-E)模式測量范圍:2.54~152.4mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍:2.54~102mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)測量涂層(CT)模式測量范圍:0.0127~2.54mm(涂層)分辨率:0.01mm聲速范圍:309.88~18542m/s單位:公制或英制校準(zhǔn):一點和兩點校準(zhǔn)方式
顯示
顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素。可視區(qū)62x45.7mm,EL背光;可選1/4英寸彩色顯示屏,320x240象素 A-掃描方式:檢波+/-(缺陷視場),RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)??v向和橫向視圖(彩色顯示屏) B-掃描方式:基于時間的橫截面視圖。顯示速度為每秒10到200個讀數(shù)大數(shù)字方式:標(biāo)準(zhǔn)厚度顯示,數(shù)字高度17.78mm/14.35mm(彩色顯示屏)厚度條形掃描:速度10Hz,在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見穩(wěn)定度指示:表示測量值的穩(wěn)定性功能狀態(tài)指示:顯示當(dāng)前的功能
超聲波參數(shù)
測量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT脈沖:可調(diào)方波脈沖發(fā)生器接收:根據(jù)選擇模式在110dB范圍內(nèi)采用手動或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可調(diào)計時:單次100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀TCXO計時脈沖重復(fù)頻率:250Hz
探頭
頻率范圍:1~20MHz雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式) LEMO接口,1.2米探頭線可定制用于特殊應(yīng)用的探頭
存儲
容量:內(nèi)置4GB SD卡數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu):網(wǎng)格(字母數(shù)字)和順序(自動識別)截屏功能:位圖圖形捕獲,用于快速記錄數(shù)據(jù)輸出:通過USB Type-C連接的計算機
功能
設(shè)置:64個用戶定義設(shè)置,用戶也可編輯出廠設(shè)置探頭類型可選:內(nèi)置雙路誤差校正,提高線性度**模式:上下限視聽**快速掃描模式:每秒250個讀數(shù),當(dāng)探頭離開時顯示小值
其他
鍵盤:12個觸摸鍵電源:標(biāo)配為三節(jié)5號堿性電池,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動關(guān)機。USB Type-C供電外殼:擠壓鋁機殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝工作溫度:-10~60℃尺寸重量:63.5x165x31.5mm,含電池385g包裝:ABS工程塑料箱出廠證書:工廠校準(zhǔn)可追溯到NIST和MILSTD-45662A標(biāo)準(zhǔn)
雙晶探頭
型號
頻率
探頭晶片直徑
探頭防磨面直徑
測量范圍
說明
PT-102-2900
5.0MHz
6.35mm
9.53mm
1.0~152mm
標(biāo)準(zhǔn)CT探頭(可測涂層厚度)
PT-101-2900
4.76mm
1.0~50mm
小管徑CT探頭
PT-102-3300
7.5MHz
0.63~152mm
薄探頭
PT-104-2900
12.7mm
15.88mm
1.27~508mm
厚CT探頭
PT-042-2000
標(biāo)準(zhǔn)高溫探頭,340℃
PT-044-2000
厚高溫探頭,340℃
PT-212-2001
高溫探頭,480℃
PT-214-2001
厚高溫探頭,480℃
注:測試高溫表面時需用高溫耦合劑
單晶探頭
探頭型號
描述
PT-402-5507
15MHz
晶片?6.35mm
標(biāo)準(zhǔn)延遲塊探頭
PT-402-6507
20MHz
延遲塊探頭
PT-4903-2875
5MHz
晶片?3.18mm,防磨面?6.35mm
接觸式探頭
PT-4903-4875
10MHz
PT-4023-2855
晶片?6.35mm,防磨面?9.53mm
PT-4023-4855
PT-481-4507
延遲塊前端?1.59mm
筆式探頭
CEM華盛昌涂鍍層測厚儀DT-156
錫膏厚度測試儀 LASCAN L6000
PZ1785絕緣壁厚測試儀
注射劑瓶瓶口邊厚儀
瓶壁厚測試儀
涂鍍層測厚儀
XRF涂鍍層測厚儀
微電腦薄膜測厚儀 薄膜自動厚度測量儀
全自動薄膜測厚儀
機械接觸式薄膜測厚儀
電腦式薄膜測厚儀
高精度薄膜測厚儀
臺式薄膜測厚儀
0.0001mm薄膜測厚儀
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