詳細(xì)說明
產(chǎn)品型號(hào)：SuperView W1
產(chǎn)品名稱：光學(xué)3D表面輪廓儀
- 光學(xué)Zoom：1×，（0.75×，0.5×可選）
- 影像系統(tǒng)：1024×1024
- 干涉物鏡：2.5×，5×，10×，20×，50×
- XY平臺(tái)移動(dòng)范圍：140×110mm
- 控制方式：電動(dòng)
- Z軸行程：100mm
- Z向掃描范圍：10mm
- Z向掃描速度：>45μm/s
- Z向分辨率：0.1nm
- 可測(cè)樣品反射率：0.05%-99%
- 水平調(diào)整：±5°，手動(dòng)
- 粗糙度RMS重復(fù)性：0.005nm
- 臺(tái)階高測(cè)量：準(zhǔn)確度＜0.7%，重復(fù)性＜0.1% 1σ
- 主要特點(diǎn)：非接觸式無損檢測(cè)，一鍵分析、快速高效
- 生產(chǎn)企業(yè)：深圳市中圖儀器股份有限公司
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詳細(xì)信息
一、 產(chǎn)品描述
SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。
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SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、工、科研院所等領(lǐng)域中。可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。
二、 產(chǎn)品功能
1) 一體化操作的測(cè)量與分析軟件，操作無須進(jìn)行切換界面，預(yù)先設(shè)置好配置參數(shù)再進(jìn)行測(cè)量，軟件自動(dòng)統(tǒng)計(jì)測(cè)量數(shù)據(jù)并提供數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出功能，即可快速實(shí)現(xiàn)批量測(cè)量功能。
2) 測(cè)量中提供自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量功能、批量測(cè)量、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化功能。
3) 測(cè)量中提供拼接測(cè)量功能。
4) 分析中提供調(diào)整位置、糾正、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能，其中調(diào)整位置包括圖像校平、鏡像等功能；糾正包括空間濾波、修描、尖峰去噪等功能；濾波包括去除外形、標(biāo)準(zhǔn)濾波、過濾頻譜等功能；提取包括提取區(qū)域和提取剖面等功能。
5) 分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能，其中粗糙度分析包括依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)的ISO4287的線粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全參數(shù)分析功能；幾何輪廓分析包括臺(tái)階高、距離、角度、曲率等特征測(cè)量和直線度、圓度形位公差評(píng)定等功能；結(jié)構(gòu)分析包括孔洞體積和波谷深度等；頻率分析包括紋理方向和頻譜分析等功能；功能分析包括SK參數(shù)和體積參數(shù)等功能。
6) 分析中同時(shí)提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能，設(shè)置分析模板，結(jié)合測(cè)量中提供的自動(dòng)測(cè)量和批量測(cè)量功能，可實(shí)現(xiàn)對(duì)小尺寸精密器件的批量測(cè)量并直接獲取分析數(shù)據(jù)的功能。
三、 應(yīng)用領(lǐng)域
對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。
應(yīng)用范例：
半導(dǎo)體.拋光硅片、減薄硅片、晶圓IC
3C電子.藍(lán)寶石玻璃粗糙度、手機(jī)金屬殼模具瑕疵、手機(jī)油墨屏高度差
超精密加工.光學(xué)透鏡
精密加工.發(fā)動(dòng)機(jī)葉片
精密加工.金字塔型金剛石磁頭
標(biāo)準(zhǔn)樣塊.單刻線臺(tái)階、多刻線粗糙度
四、性能特色
1、 高精度、高重復(fù)性
1） 采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和優(yōu)異的3D重建算法組成測(cè)量系統(tǒng)，保證測(cè)量精度高；
2） 的隔振系統(tǒng)，能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動(dòng)，消除地面振動(dòng)噪聲和空氣中聲波振動(dòng)噪聲，保障儀器在大部分的生產(chǎn)車間環(huán)境中能穩(wěn)定使用，獲得的測(cè)量重復(fù)性；
2、 一體化操作的測(cè)量分析軟件
1） 測(cè)量與分析同界面操作，無須切換，測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了快速批量測(cè)量的功能；
2） 可視化窗口，便于用戶實(shí)時(shí)觀察掃描過程；
3） 結(jié)合自定義分析模板的自動(dòng)化測(cè)量功能，可自動(dòng)完成多區(qū)域的測(cè)量與分析過程；
4） 幾何分析、粗糙度分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析五大功能模塊齊全；
5） 一鍵分析、多文件分析，自由組合分析項(xiàng)保存為分析模板，批量樣品一鍵分析，并提供數(shù)據(jù)分析與統(tǒng)計(jì)圖表功能；
6） 可測(cè)依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT等標(biāo)準(zhǔn)的多達(dá)300余種2D、3D參數(shù)。
3、 精密操縱手柄
集成X、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺(tái)平移、Z向聚焦、找條紋等測(cè)量前工作。
4、 雙通道氣浮隔振系統(tǒng)
既可以接入客戶現(xiàn)場(chǎng)的穩(wěn)定氣源也可以采用便攜加壓裝置直接加壓充氣的雙通道氣浮隔振系統(tǒng)，在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作。
五、應(yīng)用案例：
某單位復(fù)合材料測(cè)量
西華大學(xué)水機(jī)葉片磨損檢測(cè)
附錄1.依據(jù) ISO/ASME/EUR/GBT等國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算的2D，3D參數(shù)表：
2D參數(shù)表
標(biāo)準(zhǔn)名
參數(shù)
ISO 4287-1997
主剖面
粗糙度
波紋度
振幅參數(shù)
Pp, Pv ,Pz, Pc, Pt,Pa,Pq,Psk,Pku
Rp, Rv ,Rz, Rc, Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku
Wp, Wv ,Wz, Wc, Wt,Wa,Wq,Wsk,Wku
間距參數(shù)
PSm,Pdq
RSm,Rdq
WSm,Wdq
物料比參數(shù)
Pmr,Pdc
Rmr,Rdc,Rmr(Rz/4)
Wmr,Wdc,Wmr(Wz/4)
峰值參數(shù)
PPc
RPc
WPc
ISO 13565
ISO 13565-2
Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rpk,Rvk
ISO 12085
粗糙度圖形參數(shù)
R,AR,R× ,Nr
波紋度圖形參數(shù)
W,AW,W×,Wte
其他圖形參數(shù)
Rke,Rpke,Rvke
AMSE B46.1
2D參數(shù)
Rt,Rp,Rv,Rz,Rpm,Rma×,Ra,Rq,Rsk,Rku,tp,Htp,Pc,Rda,Rdq,RSm,Wt
DIN EN ISO 4287-2010
原始輪廓參數(shù)
Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
粗糙度參數(shù)
Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,
波紋度參數(shù)
Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr
JIS B0601-2013
原始輪廓參數(shù)
Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
粗糙度參數(shù)
Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,Rdq,Rdc,Rmr
波紋度參數(shù)
Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr
GBT 3505-2009
原始輪廓參數(shù)
Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
粗糙度參數(shù)
Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,Rdq,Rdc,Rmr
波紋度參數(shù)
Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr
3D參數(shù)表
標(biāo)準(zhǔn)名
參數(shù)
ISO 25178
高度參數(shù)
Sq,Ssk,Sku,Sp,Sv,Sz,Sa
函數(shù)參數(shù)
Smr,Smc,S×p
空間參數(shù)
Sal,Str,Std
復(fù)合參數(shù)
Sdq,Sdr
體積參數(shù)
Vm,Vv,Vmp,Vmc,Vvc,Vvv
形態(tài)參數(shù)
Spd,Spc,S10z,S5p,S5v,Sda,Sha,Sdv,Shv
功能參數(shù)
Sk,Spk,Svk,Smr1,Smr2,Spq,Svq,Smq
ISO 12781
平面度參數(shù)
FLTt,FLTp,FLTv,FLTq
EUR 15178N
振幅參數(shù)
Sa,Sq,Sz,Ssk,Sku,Sp,Sv,St
空間參數(shù)
Str,Std,Sal
復(fù)合參數(shù)
Sdq,Sds,Ssc,Sdr,Sfd
面積體積參數(shù)
Smr,Sdc
函數(shù)參數(shù)
Sk,Spk,Svk,Sr1,Sr2,Spq,Svq,Smq
功能性指標(biāo)參數(shù)
Sbi,Sci,Svi
EUR 16145 EN
振幅參數(shù)
Sa，Sq，Sy，Sz，Ssk，Sku
混合參數(shù)
Ssc，Sdq，Sdr
功能性指標(biāo)
Sbi，Sci，Svi，Sk，Spk，Svk
空間參數(shù)
Sds，Std，Stdi，Srw，Srwi
硬度參數(shù)
Hs，Hvol，Hv，Hps，Hpvol，Hpv，Hap，Hbp
ASME B46.1
3D參數(shù)
St,Sp,Sv,Sq,Sa,Ssk,Sku,SWt
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