XT V 130和XT V 160X射線/CT檢測(cè)系統(tǒng)
尼康XT V系列包括用于電子元件(PCB、BGA、芯片設(shè)計(jì)等)無損檢測(cè)的X射線和CT檢測(cè)系統(tǒng)。
XT V 130和XT V 160
XT V系統(tǒng)范圍具有亞微米特征識(shí)別功能,可滿足當(dāng)今對(duì)復(fù)雜電子元件進(jìn)行高性能、無損檢測(cè)的需要。尼康Xi Nanotech X射線源與業(yè)平板探測(cè)器相配,可產(chǎn)高品質(zhì)的圖像質(zhì)量,并在2D和3D檢測(cè)之間實(shí)現(xiàn)無縫轉(zhuǎn)換。
X射線源

尼康的Xi Nanotech X射線源,具備整體式發(fā)生器設(shè)計(jì)和160kV與20W功率的特點(diǎn)。
*的圖像增強(qiáng)功能

High.Contrast Filter 通過在單幅清晰圖像中同時(shí)保證高低對(duì)比度區(qū)域的出色圖像質(zhì)量,從而揭示射線圖像中的隱藏細(xì)節(jié)。操作員現(xiàn)在可以比以往更快地識(shí)別樣品的各個(gè)方面,從而優(yōu)化和提高效率
PCB分析套件

BGA、鍵合線、PTH和多層板上的PoP等復(fù)雜封裝的高級(jí)測(cè)量和分析功能,具有自動(dòng)通過/失敗檢測(cè)和報(bào)告功能。
斜角同心成像

斜角視場(chǎng)高達(dá)90°,360°樣本旋轉(zhuǎn),借助智能軟件和硬件保持感興趣區(qū)域。
規(guī)格比較



















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