應(yīng)用領(lǐng)域：液體、渾濁液體、固體均可適用。可實(shí)現(xiàn)包括粉末、玻璃、光學(xué)薄膜、膠片材料、透鏡、棱鏡、單晶片、液體電路板等各種光學(xué)、電子設(shè)備材料的吸收/透過率/反射率的無損測試。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)元件、光電設(shè)備、新型材料的光譜性能研究，獲取樣品的吸收、全透射、正透射、漫透射、全反射、正反射、漫反射等光譜數(shù)據(jù)。

品牌：日立
產(chǎn)地：日本
型號：UH4150
產(chǎn)品介紹：
在固體分析分光光度計專家U-4100的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)了進(jìn)一步的技術(shù)提高, UH4150問世！
UH4150是積分球分光光度計產(chǎn)品專家，半導(dǎo)體、光學(xué)元件、新型材料的光譜性能研究，是功能勁的分光光度系統(tǒng)。UH4150是固體、液體和渾濁樣品測試的高性能系統(tǒng)。

技術(shù)特點(diǎn)； 

（1）     切換檢測器波長時會產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實(shí)現(xiàn)高精度的測定。

由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號處理技術(shù)等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。

（2）      日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)低雜散光和低偏振。

棱鏡-光柵（P-G）系統(tǒng)與常見的光柵-光柵（G-G）系統(tǒng)相比,S和P偏振光強(qiáng)度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實(shí)現(xiàn)低噪音測定。

（3）      平行光束可實(shí)現(xiàn)反射光和散射光的精確測定。

平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實(shí)現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴(kuò)散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。

（4）     可提供適合不同測定目的的多種檢測器。

 可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球

（5）      采用全新人體工學(xué)設(shè)計。

改進(jìn)樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計。

（6）      兼容多種U-4100附件。

通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。

（7）      比U-4100型更高的樣品通量。

UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進(jìn)行測定，顯著縮短測定時間。