OMQ100W-088系列技術規(guī)格

OMQ100W-016系列技術規(guī)格

OMQ100W-03系列技術規(guī)格

儀器介紹

大視野影像閃測、高精度、全自動，開創(chuàng)快速測量新理念,
通過將遠心成像與智能圖像處理軟件的結合，
任何繁瑣的測量任務，都變得無比簡單。
只需把工件放置到有效測量區(qū)域，然后輕輕按一鍵，
工件所有二維尺寸瞬間完成測量。

應用行業(yè)

廣泛應用于機械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器、磁性材料、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機、家電、印刷電路板、、鐘表、刀具等尺寸較小的產品及零部件的批量快速測量。

儀器特點

1.打破尺寸測量的常規(guī)。

2.大口徑高景深，實現(xiàn)全視野范圍成像清晰，超低畸變。

3.高分辨率數(shù)字相機。儀器采用1200萬~4300萬像素高分辨率數(shù)字相機。
4.軟件采用的20：1亞像素圖象邊緣處理。

5.小二乘法回歸處理可自動祛除毛刺和異常點，將對特征位置上的影響降低到低。

6.自動識別工件、無需定位。

7.高效的批量測量。
測量范圍內一次性可測量大于20000個尺寸，100個尺寸測量時間小于1秒，大幅縮短測量時間，提高測量效率。

8.多個工件任意擺放，自動識別，批量測量。

軟件介紹

自主研發(fā)，軟件界面簡潔、功能*，極易學習；采用我司自主研發(fā)的畸變校正技術，保證在視野的各位置、各角度測量結果穩(wěn)定精準；自主研發(fā)的圖像拼接技術，保證拼接誤差小于0.003mm。
（特殊軟件功能可接受定制 ）

用戶程序：
(一)自動匹配工件，任意放置，一鍵測量?？勺詣铀阉髌ヅ洳⒄{出用戶程序。可框選建立匹配、多個位置框選組合建立匹配、用測量元素建立匹配、可導入CAD建立匹配。可建立程序組，實現(xiàn)工件多個面翻面測量。
(二)全面的測量元素：
點、高點、線、高線、圓（中心坐標，半徑、直徑、真圓度、周長、面積，大半徑、小半徑）、弧、矩形（中心坐標，長、寬、周長、面積）、橢圓（中心坐標，長軸、短軸、周長、面積）、鍵槽（中心坐標，長、寬、周長、面積）、導入CAD輪廓掃描比對、輪廓PV、面積對比、圓柱直徑、密封圈（通過周長計算半徑、密封圈大半徑、小半徑、厚度）、測量結果再計算（大值、小值、平均值、求和）、二維碼識別、條碼識別。
(三)標注：
距離、X距離、Y距離、半徑、直徑、角度。
(四)形狀誤差評定：
直線度、圓度。
(五)位置誤差評定：
平行度、垂直度、對稱度、同心度、位置度。 
(六)坐標系轉換
笛卡爾坐標（X，Y）與極坐標（R，θ）可方便選擇?？杉磿r轉換測量值的基本單位mm、inch、mil。 坐標平移、坐標旋轉，建立工件坐標系。 
(七)測數(shù)據
可以自定義EXCEL模板，可以指定輸出單元格。軟件自帶CPK模板，可以計算Mean、Maximum、Minimum、Cp、Cpkl、Cpku、Cpk。
(八)其他
1、軟件語言：多國語言可選，語言包開放，可定義翻譯修改。
2、 圖像和繪圖區(qū)共用，所見即所得，可自定義：顏色、線寬、字體大小、背景顏色。
3、對焦輔助、燈光輔助功能，減少人為誤差。
4、合格/不合格（OK/NG），并報警提示，可語音輸出：OK、NG。
5、 可快速掃描輪廓，并導出到CAD。
6、 可選配IO卡，外觸發(fā)測量并OK NG 信號輸出。
(九)SPC：
包括：直方圖、Cpk趨勢圖、X控制圖、Xbar-R控制圖、Xmedian-R控制圖、X-Rs控制圖。

一鍵式測量儀的優(yōu)勢

1、友好操作，低成本 
提高操作效率、降低人工成本、避免人為誤差 
減少試樣固定、擺放、校位、對焦、調光、運動控制，視野范圍內批量自動測量等提高測量效率。 

2、操作培訓簡便、使用門檻低、測試效率高，可節(jié)省人工成本

3、測量誤差小。避免操作方式、試樣擺放、測量順序等人為失誤因素，有效消除因人為造成的測量誤差