哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗裝置試驗方法

KTR011抗開裂卷繞試驗裝置試驗方法 

1、絕緣熱沖擊試驗 
1.1取樣 
每個被試絕緣線芯應取兩根適當長度的試樣，試樣應取自兩處，間隔至少為1m。若有外護層的話，應從絕緣上除去。 
1.2試樣制備 
試樣應按下列三種方法中的一種進行制備： 
a)對于外徑不超過12.5mm的絕緣線芯，每一試樣是一段絕緣線芯。 
b)對于外徑超過12.5mm，絕緣厚度不超過5.0mm的絕緣線芯和所有的扇形絕緣線芯，每個試樣應取成絕緣窄條，其寬度至少是絕緣厚度的1.5倍，但不小于4mm。 
窄條應沿絕緣線芯的軸線方向切取，如果是扇形絕緣線芯，應在絕緣線芯的“背部”切取。 
c)對于外徑超過12.5mm，絕緣厚度超過5.0mm的絕緣線芯，每個試樣應按b)規(guī)定切取窄條，然后窄條的外表面磨或削（避免過熱）到4.0～5.0mm厚，該厚度應在窄條的較厚部分測得，窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。 
1.3試樣卷繞 
每個試樣應在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，并將兩端固定。 
試棒直徑和卷繞圈數規(guī)定如下： 
a)按1.2a）項制備的試樣、扁平電纜或軟線，表1規(guī)定了試棒的直徑和卷繞圈數。試棒直徑應按其短軸尺寸選取，卷繞時使其短軸垂直于試棒。 
表1 
試樣外徑D/mm 試棒直徑/mm 卷繞圈數 
D≤2.5 5 6 
2.5＜D≤4.5 9 6 
4.5＜D≤6.5 13 6 
6.5＜D≤9.5 19 4 
9.5＜D≤12.5 40 2 
b)按1.2b）和1.2c）制備的試樣，表2規(guī)定了試棒的直徑和卷繞圈數。在這種情況下，試樣的內表面應與試棒接觸。 
表2 
試樣厚度δ/mm 試棒直徑/mm 卷繞圈數 
δ≤1 2 6 
1＜δ≤2 4 6 
2＜δ≤3 6 6 
3＜δ≤4 8 4 
4＜δ≤5 10 2 
上述表格中，試樣直徑或試樣厚度應用游標卡尺或其他合適的測量工具進行測定。 
1.4加熱和檢查 
繞在試棒上的試樣應放入預熱到有關電纜產品標準規(guī)定試驗溫度的空氣烘箱中，如果電纜標準沒有規(guī)定，則預熱到（150±3）0C，試樣在規(guī)定溫度下保持1h。 
加熱結束后從烘箱中取出試樣并在試樣達到近似環(huán)境溫度后，檢查仍在試棒上的試樣。 
1.5試驗結果的評定 
用正常視力或矯正后的視力而不用放大鏡進行檢查時，試樣應裂紋。 

哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗裝置試驗方法
2、護套熱沖擊試驗 
2.1取樣 
每個被試護套應取兩根適當長度的電纜試樣，試樣取自兩處，間隔至少1m。若有外護層應除去。 
2.2試樣制備 
a)對于外徑不超過12.5mm的護套，每個試樣應是一段電纜，但聚乙烯絕緣、聚乙烯護套電纜除外。 
b)對于外徑超過12.5mm，厚度不超過5.0mm的護套和聚乙烯絕緣電纜的護套，每個試樣應是取自護套上的窄條，其寬度至少是護套厚度的1.5倍，但不小于4mm，窄條應沿電纜的軸線方向切取。 
c)對于外徑超過12.5mm，厚度超過5.0mm的護套，每個試樣應是按b）項規(guī)定切取的窄條，然后在窄條的外表面磨或削（避免過熱）到（4.0～5.0mm）厚，該厚度應在窄條的較厚部分測得，窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。 
d)對于扁電纜，如果電纜的寬度不超過12.5mm，每個試樣應是一段完整的電纜。如果電纜寬度超過12.5mm，則每個試樣應是按b）規(guī)定從護套上切取的窄條。 
2.3試樣卷繞 
每個試樣應在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，將兩端固定。 
按2.2a)項制備的試樣，及2.2d)項寬度不超過12.5mm的扁平電纜，試棒的直徑和卷繞圈數應按照1.3a)項規(guī)定。試棒直徑應按電纜的短軸尺寸選取，卷繞時應使其短軸垂直于試棒。 
按2.2a)和2.2c)項制備的試樣，及2.2d)項寬度超過12.5mm的扁平電纜，試棒直徑和卷繞圈數應按照1.3b)項規(guī)定。在這種情況下，試樣的內表面應與試棒接觸。 
2.4加熱和檢查 
按1.4的規(guī)定 
2.5試驗結果的評定 
按1.5的規(guī)定

用正常視力或矯正后的視力而不用放大鏡進行檢查時，試樣應裂紋 每個被試護套應取兩根適當長度的電纜試樣，試樣取自兩處，間隔至少1m；若有外護層應除去 對于外徑不超過12.5mm的護套，每個試樣應是一段電纜，但聚乙烯絕緣、聚乙烯護套電纜除外

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