● 滿(mǎn)足RoHS/ELV/WEEE、無(wú)鹵、EN71等環(huán)保指令管控

●  采用全原裝美國(guó)進(jìn)口Si-PIN電制冷探測(cè)器，無(wú)需液氮

●  一機(jī)多能，同一軟件界面還可實(shí)現(xiàn)金屬鍍層厚度以及合金成分分析

● 業(yè)內(nèi)提供開(kāi)放式工作區(qū)，用戶(hù)根據(jù)需求可自行增加測(cè)試元素、測(cè)試工作區(qū)，無(wú)需廠家

產(chǎn)品概述

Ux-550 能量色散X熒光光譜儀是一款既可應(yīng)對(duì)RoHS/ELV/WEEE、無(wú)鹵、EN71等環(huán)保指令管控又可檢測(cè)金屬鍍層厚度以及合金成分的多功能機(jī)型，軟件精心設(shè)計(jì)的開(kāi)放式工作曲線功能，無(wú)需廠家，用戶(hù)可根據(jù)測(cè)試需求自行增加測(cè)試元素、新建測(cè)試工作區(qū)，特別適用于多材料的工廠制程控制。

應(yīng)用領(lǐng)域

用于RoHS/WEEE/ELV指令管控的產(chǎn)品：電子電器、汽車(chē)行業(yè)、信息技術(shù)及通訊設(shè)備、電動(dòng)工具、玩具等設(shè)備

用于無(wú)鹵指令管控的產(chǎn)品：含有Cl、Br等元素作阻燃劑的產(chǎn)品

用于銅合金、鐵合金、鋁合金、鈦合金、高溫合金及各種混雜合金等合金材料內(nèi)元素成分分析和含量測(cè)試

用于單、雙層金屬電鍍層厚度檢測(cè)

性能優(yōu)勢(shì)

快速、無(wú)損分析

通過(guò)X射線無(wú)損激發(fā)被測(cè)物元素，經(jīng)探測(cè)器（Si-PIN）采集其熒光強(qiáng)度，軟件只需數(shù)秒即可得到精準(zhǔn)的元素含量、鍍層厚度和基材成分

開(kāi)放式工作曲線，一機(jī)多能

業(yè)內(nèi)提供開(kāi)放式工作區(qū)，無(wú)需廠家，用戶(hù)可根據(jù)測(cè)試需求增加測(cè)試元素和新建測(cè)試工作區(qū)，軟件除檢測(cè)RoHS有害元素外，還可對(duì)合金成分、金屬鍍層厚度檢測(cè)。

全譜圖對(duì)比，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)物料變化

通過(guò)全譜圖對(duì)比功能，用戶(hù)很快就能識(shí)別同種物料是否發(fā)生材質(zhì)（成分、鍍層）變化，防止材料改變給產(chǎn)品質(zhì)量造成影響。

技術(shù)規(guī)格：