三維X射線顯微鏡成像分析系統(tǒng)與傳統(tǒng)的工業(yè)CT和微米CT相比,在系統(tǒng)中引入了光學(xué)物鏡放大技術(shù),通過(guò)光學(xué)和幾何兩級(jí)放大技術(shù)進(jìn)行成像,可以實(shí)現(xiàn)單一幾何放大無(wú)法實(shí)現(xiàn)的大樣品高分辨和高襯度成像。因此采用幾何放大加光學(xué)放大的CT系統(tǒng)叫X射線顯微鏡。其基本工作原理:利用物體對(duì)X射線的吸收襯度信息進(jìn)行三維重構(gòu),從而獲得物體的斷層圖像的技術(shù)。
蔡司亞微米級(jí)成像顯微鏡亮點(diǎn):行業(yè)的4D和原位能力,可實(shí)現(xiàn)靈活的樣品尺寸和類(lèi)型。Xradia 410 Versa 三維X射線成像顯微鏡提供經(jīng)濟(jì)高效、靈活的 3D 成像,使您能夠處理各種樣品和研究環(huán)境。非破壞性的 X 射線成像可長(zhǎng)期保存并延長(zhǎng)您寶貴樣品的使用時(shí)間。該儀器實(shí)現(xiàn)了0.9微米的真實(shí)空間分辨率,最小可實(shí)現(xiàn)的體素尺寸為100納米。的吸收和相位對(duì)比(適用于軟材料或低Z材料)為您提供了更多的功能,以克服傳統(tǒng)計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)方法的局限性。
























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