蔡康儀器為西安大學(xué)交付外部調(diào)節(jié)探針臺

在半導(dǎo)體、材料科學(xué)等領(lǐng)域進(jìn)行變溫微區(qū)電學(xué)測試時(shí)，探針針尖與樣品的精準(zhǔn)、穩(wěn)定接觸是獲取可靠數(shù)據(jù)的關(guān)鍵。

蔡康儀器為西安大學(xué)交付外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺，實(shí)現(xiàn)變溫電學(xué)測試。

典型應(yīng)用場景

1、半導(dǎo)體器件在低溫/高溫下的電學(xué)特性微區(qū)測試

2、材料相變點(diǎn)附近的局部電導(dǎo)/熱導(dǎo)測量

3、納米材料、低維材料在變溫條件下的物性表征

產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù):

溫度范圍:-190℃~400°C，RT~1000℃

溫度穩(wěn)定性:±0.1℃/±0.05℃

探針:同軸探針*4-7

探針臂行程 ：粗調(diào) 30mm*30mm,微調(diào) 20mm*20mm*10mm,精度＜10um

探針接口:三同軸BNC

腔室:真空

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