在科技日新月異的今天,材料科學的每一次突破都推動著人類文明的邊界向前躍進。而在這場探索未知的征途中,一個看似不起眼卻至關(guān)重要的工具——高頻介電常數(shù)測量儀,正悄然扮演著解鎖材料“隱形密碼”的關(guān)鍵角色。它如同一雙銳利的眼睛,穿透物質(zhì)的表象,精準捕捉那些決定材料性能與應用的微妙電學特性。無論是半導體材料的研發(fā)、高分子復合材料的優(yōu)化,還是生物醫(yī)學工程中生物組織的電特性分析,高頻介電常數(shù)測量儀都以它精確度,為科研人員提供了一條通往材料世界深層奧秘的捷徑。接下來,就讓我們一同揭開這款高科技儀器的神秘面紗,探索它如何在材料科學的浩瀚星空中,點亮一盞盞指引未來的明燈。
儀器簡介
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì)。通過薄膜介質(zhì)損耗儀測定可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。
儀器用途
薄膜介質(zhì)損耗儀用于科研機關(guān)、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。
參考標準
u GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法;
u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法;
u ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法;
u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法。
技術(shù)參數(shù)
| 1 | 信號源 | DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz |
| 2 | 采樣精度 | 11BIT |
| 3 | 測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 |
| 4 | 分辨率 | 0.1 |
| 5 | 測量工作誤差 | <5% |
| 6 | 電感測量范圍 | 分辨率0.1nH |
| 7 | 電感測量誤差 | <3% |
| 8 | 調(diào)諧電容 | 主電容30-540pF |
| 9 | 電容直接測量范圍 | 1pF~2.5uF |
| 10 | 調(diào)諧電容誤差 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
| 11 | 諧振點搜索 | 自動掃描 |
| 12 | 合格預置范圍 | 5-1000聲光提示 |
| 13 | LCD顯示參數(shù) | F,L,C,Q,Lt,Ct等 |
| 14 | 介質(zhì)損耗系數(shù)精度 | 萬分之一 |
| 15 | 介電常數(shù)精度 | 千分之一 |
| 16 | 材料測試厚度 | 0.1mm-10mm |
| 17 | 技術(shù) | 儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。大電容值直接測量顯示。數(shù)顯微測量裝置,直接讀值。 |



























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