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產品簡介
環(huán)境條件對電子元件、設備和系統(tǒng)的功能和可靠性有很大影響。為了在最短的時間內發(fā)現(xiàn)潛在的缺點,常規(guī)的溫度試驗往往是不夠的,測試樣品必須經受多次突然的溫度變化。
借助于我們的 ShockEvent 系列設備,可以實現(xiàn)從 -80 °C 到 +220 °C 的極快溫度變化。為此,我們提供的解決方案有:具有靜態(tài)試驗空間的阻尼熱沖擊試驗箱,包括用于三區(qū)試驗的環(huán)境溫度,或配裝移動吊籠的經典垂直熱沖擊試驗箱。這樣就可以減少早期故障,提高產品的可靠性。
可重復性、認證性和時效性。
我們的產品亮點:
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