光學(xué)顆粒物粒徑譜儀

Model：3330

     tsi3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的測量?；赥SI40年氣溶膠儀器設(shè)計的經(jīng)驗，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強(qiáng)度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時，TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的精確性。TSI3330不僅可以單獨使用，而且還可以放入TSI的外場環(huán)境箱中在野外使用。

應(yīng)用

 光學(xué)儀器由于其易于操作、測量速度快、結(jié)實耐用，而被廣泛應(yīng)用于不同領(lǐng)域。

 一些主要的應(yīng)用如下：

過濾測試（ASHRAE52.2）

室內(nèi)空氣質(zhì)量

工作場所監(jiān)測

室外環(huán)境監(jiān)測

工業(yè)測量

源排放監(jiān)測和控制

特性和優(yōu)點

0.5微米時粒徑分辨率小于5%

粒徑通道用戶可調(diào)

檢測粒徑范圍：0.3—10微米，最多16通道

檢測濃度范圍：0-3000個/cm3

彩色觸摸屏，直觀的用戶界面

滿足ISO 21501-01/04要求

輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數(shù)濃度和質(zhì)量濃度

收集的采樣膜可進(jìn)行稱重測量和化學(xué)分析

電池電量可供20小時的操作

最多可存儲30000個數(shù)據(jù)

記錄每個樣品的溫度和壓力

備注：美國TSI3330，美國TSI光學(xué)顆粒物粒徑譜儀3330，美國TSI，代理美國TSI粒徑譜儀3330，中儀環(huán)科代理美國TSI光學(xué)顆粒粒徑譜儀3330，TSI粉塵儀，TSI風(fēng)速儀，tsi激光粒子計數(shù)器，tsi流量計，tsi風(fēng)壓計，TSI風(fēng)量罩，TSI粒子圖像測速儀。