產(chǎn)品詳情
威邦HAST高壓加速老化試驗箱：英文名Highly Accelerated Stress Test Chamber 用于模擬芯片高溫高濕高壓的環(huán)境中，在一定時間內(nèi)進行加速老化測試，藉以在最短時間內(nèi)檢驗芯片的可靠性和壽命，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
? 行業(yè)壓力可達4KG測試范圍，
? 自動箱門設計，按鈕控制箱門開合，自帶壓力保護，
? 內(nèi)置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準確度，
? 兼容不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱（HAST）和高壓蒸煮（PCT）試驗，
產(chǎn)品特點
滿足試驗標準：
AEC Q101（車規(guī)級芯片）
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗?jié)裥詽B透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
技術(shù)規(guī)格
*可定制任意規(guī)格參數(shù)非標機型
| HAST高壓加速老化試驗箱（自動門） | |||||
| 型號Model | WBE-HAST-30 | WBE-HAST-40 | WBE-HAST-55 | WBE-HAST-65 | |
| 容積（L） | 31 L | 69 L | 154 L | 248 L | |
| 內(nèi)箱尺寸 （mm） | 直徑φ | 350 | 400 | 550 | 650 |
| 深D | 450 | 550 | 650 | 750 | |
| 外箱尺寸 （mm） | 寬W | 700 | 700 | 850 | 950 |
| 深D | 1000 | 1000 | 1150 | 1350 | |
| 高H | 1710 | 1710 | 1760 | 1860 | |
| 性能指標 | 溫度范圍 | A： +100~+143℃； B： +100~+156℃ | |||
| 濕度范圍 | 60%~99%RH | ||||
| 壓力范圍 | A：0.2~3kg/cm2 (0.018~0.294Mpa)； B：0.2~4kg/cm2 (0.018~0.394Mpa) | ||||
| 溫度均勻度 | ≤±2℃ | ||||
| 溫度波動度 | ≤±0.5℃ | ||||
| 濕度波動度 | ≤±2 % R.H | ||||
| 濕度偏差 | ≤±3 % R.H | ||||
| 溫度偏差 | ≤±2℃ | ||||
| 壓力偏差 | ≤±2Kpa | ||||
| 升溫時間 | 常溫～+ 143℃ 約45 min ；常溫～+ 156℃ 約55 min | ||||
| 升壓時間 | 常壓～3kg/cm2 約35 min，外部氣源加壓：約5 min | ||||
| 功率 | 2.8KW | 3.2KW | 4KW | 5KW | |
| 箱體材質(zhì) | 內(nèi)箱 | SUS #316不銹鋼 | |||
| 外箱 | 冷軋鋼板+雙面靜電噴塑工藝處理 | ||||
| 保溫 | 超細 | ||||
| 噪音 | ≤60（dB） | ||||
| 控制器 | 7寸彩色觸摸屏控制器（帶壓力溫濕度，帶RS-485或RS-232通訊，USB烤數(shù)據(jù)） | ||||
| 分辨率 | 溫度：0.01℃；濕度：0.1%RH；壓力：0.1 kg/cm2； | ||||
| 加壓方式 | 1.鍋爐蒸汽加壓；2.外部氣體加壓 | ||||
| BIAS偏壓端子 | 含偏壓端子（選配訂購時需注明） | ||||
| 使用條件 | 環(huán)境溫度：+5℃~+35℃;環(huán)境濕度：≤85%RH；環(huán)境大氣壓要求：86KPa～106KPa | ||||
| 電源 | AC220V 50/60Hz | ||||
| 保護裝置 | 1.超溫保護，2.風機超載保護，3.箱門壓力保護，4.缺水保護，5.溢水保護，6.加熱器空焚保護， 7.加熱器超載保護，8.電源缺相保護，9.過電流保護，10.短路漏電等保護 | ||||
| 型號說明 | |||||
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