該系統(tǒng)具有快速、方便地實(shí)現(xiàn)角度分辨的直接成像功能。另外，開(kāi)放式的光學(xué)設(shè)計(jì)，可以根據(jù)客戶需求自由、靈活搭建。主要針對(duì)研究對(duì)象和領(lǐng)域包括：光子晶體、超材料、微腔-光物質(zhì)強(qiáng)耦合體系、微納光子學(xué)等。

測(cè)試模式：熒光、反射、透射等。

主要參數(shù)：

• 空間分辨<1微米，
• 角度分辨0.1度，角度范圍-30度-+30度，
• 光譜測(cè)量范圍300nm-1000nm。

• 研究級(jí)光學(xué)顯微鏡，CCD相機(jī)進(jìn)行樣品成像觀測(cè)
• 手動(dòng)/自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)
• 多種激光器，光譜儀以及探測(cè)器選項(xiàng)

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

• 開(kāi)放式光路設(shè)計(jì)，自由靈活定制，以滿足不同應(yīng)用的特殊需求
• 角度分辨一次成像，快速獲得測(cè)試結(jié)果
• 操作簡(jiǎn)便，無(wú)需復(fù)雜的測(cè)試流程及培訓(xùn)，輕松上手
• 擴(kuò)展性強(qiáng)，暗場(chǎng)、低溫、電學(xué)、磁場(chǎng)等各種附件的升級(jí)通道。