郭

RTS-5型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合（亦稱雙位組合）測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提高了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。所有這些，用目前大量使用的常規(guī)四探針測(cè)量方法所生產(chǎn)的儀器是無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。

RTS-5型雙電測(cè)四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序，通過(guò)此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。

測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析

技　術(shù)　指　標(biāo) ：

測(cè)量范圍電阻率：0.001～200Ω.cm（可擴(kuò)展）；  
 方塊電阻：0.01～2000Ω/□（可擴(kuò)展）；
 電導(dǎo)率：0.005～1000 s/cm；
 電阻：0.001～200Ω.cm；

可測(cè)晶片厚度≤3mm

可測(cè)晶片直徑140mmX150mm（配S-2A型測(cè)試臺(tái)）；
 200mmX200mm（配S-2B型測(cè)試臺(tái)）；
 400mmX500mm（配S-2C型測(cè)試臺(tái)）；

恒流源電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔，各檔電流連續(xù)可調(diào)

數(shù)字電壓表量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　
 分辨力：10μV；
 輸入阻抗：>1000MΩ；
 精度：±0.1% ；
 顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；極性、超量程自動(dòng)顯示；

四探針探頭基本指標(biāo)間距：1±0.01mm；
 針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
 機(jī)械游移率：≤0.3%；
 探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
 探針壓力：5～16 牛頓（總力）；

四探針探頭應(yīng)用參數(shù)（見(jiàn)探頭附帶的合格證）

模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
（ 按JJG508-87進(jìn)行）  0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字

整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差（用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測(cè)試）≤±4%

整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度≤4%

計(jì)算機(jī)通訊接口并口

標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境溫度：23±2℃；
 相對(duì)濕度：≤65%；
 無(wú)高頻干擾；
 無(wú)強(qiáng)光直射；

專(zhuān)業(yè)供應(yīng)四探針測(cè)試儀系列及其配套附件產(chǎn)品（粉末壓片機(jī)、壓片模具），質(zhì)量保證、*、售后服務(wù)周到是值得廣大客戶信賴的專(zhuān)業(yè)供應(yīng)商。我公司長(zhǎng)年與全國(guó)各大高校、研究所、研究院、藥廠等多部門(mén)企事業(yè)單位實(shí)驗(yàn)室建立合作關(guān)系，受到廣大新老客戶的一直好評(píng)。： 郭

相關(guān)產(chǎn)品關(guān)鍵字：RTS-4四探針測(cè)試儀、RTS-5四探針測(cè)試儀、RTS-9雙電測(cè)四探針測(cè)試儀、RTS-8四探針測(cè)試儀、RTS-3四探針測(cè)試儀、RTS-2四探針測(cè)試儀、SB100A/2四探針導(dǎo)體/半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀、ST-21 方塊電阻測(cè)試儀、CV-2000 型電容電壓特性測(cè)試儀、PN-30 導(dǎo)電類(lèi)型鑒別儀、PN-12 導(dǎo)電類(lèi)型鑒別儀、LT-2 單晶少子壽命測(cè)試儀、LT-3 單晶少子壽命測(cè)試儀