梅特勒-托利多(METTLERTOLEDO),作為*球*先的精密儀器及衡器制造商,在百年悠久發(fā)展歷程中一直保持著技術和市場的*先性。如今,梅特勒-托利多提供的解決方案遍布實驗室、工業(yè)及零售業(yè)(商業(yè))的各個流程與環(huán)節(jié),從高精度的微量分析到千噸以上的稱重應用,梅特勒-托利多統(tǒng)一的團隊、全球的服務網、全面的解決方案幫助全球用戶增進效率、創(chuàng)造價值,輕松應對各種挑戰(zhàn)。
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METTLER梅特勒精密天平XPR2002S產品參數(shù)
| 產地 | 進口 | 產品新舊 | 全新 |
得益于梅特勒-托利多對產品質量,設計,耐久性和稱量準確性的高度重視,新經典系列天平MS,ML 和ME 在范圍內都獲得了巨大的成功。
METTLER梅特勒精密天平XPR2002S詳細信息
METTLER梅特勒精密天平XPR2002S
最大秤量
2.1 kg
可讀性
0.01 g
秤盤外形尺寸(深x寬)
172 mm x 205 mm
線性誤差(典型值)±
20 mg
重復性(典型)
4 mg
最小稱量值(USP, 0.1%,典型值)
8.2 g
重復性(校驗砝碼)
8 mg (1 kg)
穩(wěn)定時間
1.2 s
尺寸 (高x寬)
102 mm x 194 mm
校正
內部 / proFACT 高級版
線性誤差
20 mg
METTLER梅特勒精密天平XPR2002S
最大秤量
2.1 kg
可讀性
0.01 g
秤盤外形尺寸(深x寬)
172 mm x 205 mm
線性誤差(典型值)±
20 mg
重復性(典型)
4 mg
最小稱量值(USP, 0.1%,典型值)
8.2 g
重復性(校驗砝碼)
8 mg (1 kg)
穩(wěn)定時間
1.2 s
尺寸 (高x寬)
102 mm x 194 mm
校正
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線性誤差
20 mg
最大秤量
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可讀性
0.01 g
秤盤外形尺寸(深x寬)
172 mm x 205 mm
線性誤差(典型值)±
20 mg
重復性(典型)
4 mg
最小稱量值(USP, 0.1%,典型值)
8.2 g
重復性(校驗砝碼)
8 mg (1 kg)
穩(wěn)定時間
1.2 s
尺寸 (高x寬)
102 mm x 194 mm
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線性誤差
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