無(wú)錫快速溫變老化試驗(yàn)箱是模擬氣溫變化試驗(yàn)的設(shè)備，現(xiàn)實(shí)環(huán)境中的氣溫變化分日變化和年變化。日變化，zui高氣溫是午后2時(shí)左右，低氣溫是日出前后。年變化，北半球陸地上7月份熱1月冷，海洋上8月份熱2月份冷；南半球與北半球相反。還有一種就是人工變化，就是因?yàn)槿藶閷?dǎo)致一些設(shè)備在搬移或者擺放在不同的環(huán)境中面臨不同的氣溫變化，為了能提前預(yù)知產(chǎn)品的耐變性，所以廣大需求者需要購(gòu)買(mǎi)快速溫變?cè)囼?yàn)箱回去做評(píng)估或者預(yù)測(cè)試驗(yàn)。

試驗(yàn)箱內(nèi)箱尺寸：

內(nèi)箱容積：寬mm×高mm ×深mm

150L ；500×600×500

225L ；500×750×600

408L ：600×850×800

800L ：1000×1000×800

1000L：1000×1000×1000

溫變范圍：

－40℃~+85℃

－70℃~150℃

無(wú)錫快速溫變老化試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

GJB/150.3A-2009  裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB/150.4A-2009  裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）

GJB/150.9A-2009  裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件