Microtech Instruments公司可提供整套的太赫茲光譜系統(tǒng)，以滿(mǎn)足用戶(hù)各種不同的需求：-緊湊型THz光譜系統(tǒng)：美國(guó)Microtech公司提供的緊湊型太赫茲光譜儀能夠在100GHz到1.5THz光譜范圍內(nèi)進(jìn)行透射測(cè)量。該系統(tǒng)是基于毫米波返波振蕩器(BWO)與倍頻器和寬頻熱釋電探測(cè)器的相結(jié)合。-THz透射光譜系統(tǒng)：使用透射光譜系統(tǒng)進(jìn)行透射測(cè)量是表征高透明材料的方法。-THz反射光譜系......

一、Microtech成像系統(tǒng)

1、光柵掃描成像系統(tǒng)

Microtech太赫茲時(shí)域光譜儀-太赫茲光譜儀 使用與透射光譜儀相似的光學(xué)配置，但利用線(xiàn)性平臺(tái)來(lái)支撐和移動(dòng)太赫茲光束焦點(diǎn)中的物體。中心焦點(diǎn)確保成像儀具有良好的分辨率，并通過(guò)將整個(gè)信號(hào)聚焦在一個(gè)小點(diǎn)上，從而實(shí)現(xiàn)高動(dòng)態(tài)范圍。

關(guān)鍵特征包括：

• 可與BWO和TPO源一起使用
• 配有易于使用的軟件
• 無(wú)損評(píng)估的理想工具

2、T-Vision：視頻流成像系統(tǒng)

T-Vision成像系統(tǒng)為高幀率成像應(yīng)用提供了的解決方案。T-Vision成像系統(tǒng)是一套完整的集成系統(tǒng)，集成了我們的TPO發(fā)生器和成像元件。成像是基于無(wú)線(xiàn)性進(jìn)程，進(jìn)程中hte太赫茲圖像是混合了近紅外脈沖，產(chǎn)生一個(gè)向上轉(zhuǎn)換的近紅外圖像用于和CMOS相機(jī)探測(cè)使用。該系統(tǒng)可根據(jù)客戶(hù)具體需求客制化。用戶(hù)可根據(jù)具體的應(yīng)用需求自行搭建不同的基于BWO返波管的THz光譜系統(tǒng)。

T-Vision系統(tǒng)是一個(gè)一體化系統(tǒng)，將我們的TPO發(fā)生器與成像光學(xué)系統(tǒng)集成在一起。成像是基于一個(gè)非線(xiàn)性過(guò)程，其中THz圖像與近紅外脈沖混合，產(chǎn)生一個(gè)上轉(zhuǎn)換的近紅外圖像，該圖像可通過(guò)CMOS相機(jī)檢測(cè)。此外，該系統(tǒng)還可根據(jù)用戶(hù)的需求進(jìn)行定制。

二、Microtech太赫茲時(shí)域光譜儀-太赫茲光譜儀

Microtech Instruments公司可提供整套的太赫茲光譜系統(tǒng)，以滿(mǎn)足用戶(hù)各種不同的需求：

-緊湊型THz光譜系統(tǒng)

-THz透射光譜系統(tǒng)

-THz反射光譜系統(tǒng)

-THz馬赫—曾德干涉光譜系統(tǒng)

1、緊湊型 Microtech太赫茲時(shí)域光譜儀-太赫茲光譜儀

美國(guó)Microtech公司提供的緊湊型太赫茲光譜儀能夠在100GHz到1.5THz光譜范圍內(nèi)進(jìn)行透射測(cè)量。該系統(tǒng)是基于毫米波返波振蕩器(BWO)與倍頻器和寬頻熱釋電探測(cè)器的相結(jié)合。太赫茲光譜儀能夠在180GHz到1.42THz的光譜范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率的光譜測(cè)量。這些系統(tǒng)運(yùn)用了頻率可調(diào)諧的返波振蕩器(BWOs)作為太赫茲輻射源，Golay Cells（高萊探測(cè)器）作為探測(cè)器。

2、太赫茲透射光譜系統(tǒng)

使用透射光譜系統(tǒng)進(jìn)行透射測(cè)量是表征高透明材料的方法。特別是，平面平行板的透射光譜由于干涉(Fabry-Perot etalon fringes)的原因呈現(xiàn)出周期性透射圖樣。可通過(guò)這些測(cè)量決定介電常數(shù)實(shí)部和虛部，因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)具條紋的周期和振幅分別取決于材料折射指數(shù)和吸收率。

對(duì)半透明材料進(jìn)行特征分析則需要使用THz Mach-Zehnder干涉光譜系統(tǒng)，具體請(qǐng)看以下Mach-Zehnder干涉光譜系統(tǒng)的介紹。因?yàn)樵诖祟?lèi)材料的透射光譜中無(wú)法觀察到標(biāo)準(zhǔn)具條紋。Mach-Zehnder裝置可以測(cè)量由樣品作為頻率函數(shù)所引起的相移。結(jié)合這些數(shù)據(jù)和透射光譜，可以計(jì)算出介電常數(shù)的實(shí)部和虛部。

3、Mach-Zehnder（馬赫—曾德）干涉光譜系統(tǒng)

半透明材料的表征需要使用THz Mach-Zehnder干涉光譜系統(tǒng)，因?yàn)樵诖祟?lèi)材料的透射光譜中無(wú)法觀察到標(biāo)準(zhǔn)具條紋。Mach-Zehnder裝置可以測(cè)量由樣品作為頻率函數(shù)所引起的相移。結(jié)合這些數(shù)據(jù)和透射光譜，可以計(jì)算出介電常數(shù)的實(shí)部和虛部。

高吸收材料只能用反射幾何體來(lái)表征。

4、太赫茲反射光譜系統(tǒng)

不透明材料的表征需要反射光譜系統(tǒng)。這是由于發(fā)射信號(hào)太弱，無(wú)法表征，因此采用六軸控制系統(tǒng)測(cè)量反射信號(hào)。與透射光譜儀和相位分光計(jì)一樣，通過(guò)軟件的理論擬合能力，可以快速計(jì)算出折射率、消光系數(shù)和雙折射函數(shù)的實(shí)部和虛部。

太赫茲透射、Mach-Zehnder和反射光譜系統(tǒng)由TScan軟件支持，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)數(shù)據(jù)采集和分析。對(duì)于系統(tǒng)中使用的每個(gè)BWO，一次光譜掃描需要1-5分鐘。