SemiProbe高頻探針臺(tái)-手動(dòng)探針臺(tái)-半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái) 產(chǎn)品描述：

SemiProbe高頻探針臺(tái)-手動(dòng)探針臺(tái)-半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái) 是一款模塊化設(shè)計(jì)、價(jià)格適中、體積小巧的探針系統(tǒng)，適用于研發(fā)中心和各大高校，具有高穩(wěn)定性和靈活性，滿足實(shí)驗(yàn)室測(cè)量的需求。它配置完整，簡(jiǎn)單易操作，安裝可經(jīng)由客戶完成，操作可在一小時(shí)內(nèi)完成。Lab Assistant 探針臺(tái)可以配置為直流或高頻/微波測(cè)試配置，包括一系列精密配件，通常只在更大更昂貴的探針系統(tǒng)中使用。與之相比，一般情況下，這種功能的探針臺(tái)是非常昂貴的，但這款實(shí)驗(yàn)室探針臺(tái)以非常有競(jìng)爭(zhēng)力的價(jià)格實(shí)現(xiàn)提供了多種產(chǎn)品特點(diǎn)和功能選項(xiàng)—多種平臺(tái)、卡盤、光學(xué)組件和操縱器。并且可在之后增加各種附件從而增強(qiáng)系統(tǒng)功能性。此外，該探針臺(tái)有50mm、100mm、150mm或200mm卡盤和支架可供選擇，并可配備許多與PS4L系列探針臺(tái)中所使用的相同的熱卡盤、光學(xué)元件和操縱器。

SemiProbe高頻探針臺(tái)-手動(dòng)探針臺(tái)-半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái) 配置包括：

• 硬鋁基座，帶有橡膠隔振腳
• 晶圓平臺(tái)粗調(diào)和細(xì)調(diào)，可更換級(jí)選項(xiàng)-封裝部件或熱部件
• 精細(xì)的平臺(tái)移動(dòng)，使用精準(zhǔn)的測(cè)微計(jì)控制— X (25 mm), Y (25 mm) & Z (>20 mm)
• 粗略（360°）和精細(xì)（10°）θ調(diào)整
• 卡盤，附有隔離適配器和真空控制系統(tǒng)
• 鋁與不銹鋼鍍盤，附有可拆卸的前鍥
• 精密測(cè)微計(jì)驅(qū)動(dòng)壓盤Z上升（13mm）
• 顯微鏡柱，附有同軸和線性顯微鏡X，Y移動(dòng)100 mm x 100mm
• 7:1變焦(100x 放大倍率) 三目立體變焦顯微鏡，工作距離為100mm
• 兩個(gè)DC MA-8005 操縱器，帶磁性底座，面板和同軸探針臂（標(biāo)準(zhǔn)，F(xiàn)or LA-xx DC）
• 兩個(gè)DC MA-8000操縱器，帶磁性底座和HF西/東探測(cè)臂（標(biāo)準(zhǔn)，F(xiàn)or LA-xx HF）

技術(shù)參數(shù)（型號(hào)：LA-100 DC/HF）：

• 尺寸：420 mm X 540 mm X 535 mm
• 重量：32 kg
• 電源：AC 110/220V AC 50-60 Hz，20A
• 真空：23 Hg 或 -0.8 bar
• 基座：帶橡膠隔振腳的實(shí)心鋁剛性基座
• 卡盤X-Y軸移動(dòng)：用于粗調(diào)的可調(diào)磁性滑軌（>100 mm）
• 微調(diào)-25 mm（X，Y）
• 整個(gè)支架可通過(guò)磁性基座輕松拆卸
• 卡盤Z移動(dòng)：行程：20 mm
• θ移動(dòng)：360°粗調(diào)，10°微調(diào)
• 卡盤類型：真空或機(jī)械夾緊，圓形或方形，高頻等
• 壓盤：鋁和不銹鋼頂部，可拆卸前楔
• 操縱器固定-磁性(標(biāo)準(zhǔn))，真空(可選真空歧管)
• 壓盤位移：測(cè)微計(jì)驅(qū)動(dòng)調(diào)節(jié)壓盤Z
• 顯微鏡安裝：剛性鋁柱（標(biāo)準(zhǔn)）或吊桿
• 顯微鏡移動(dòng)：手動(dòng)移動(dòng)同軸和線性精密顯微鏡-100mm（X）和100mm（Y）

SemiProbe高頻探針臺(tái)-手動(dòng)探針臺(tái)-半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái) 可選配件：

CCTV系統(tǒng)（攝像機(jī)、監(jiān)視器和適配器）、操縱器、探針臂、探針、電纜、光學(xué)隔振臺(tái)，暗箱等