激光投影光色性能分析儀-激光顯示光學測試系統(tǒng)-LCOS激光投影分析系統(tǒng)-SS445產(chǎn)品描述：
激光投影光色性能分析儀-激光顯示光學測試系統(tǒng)-LCOS激光投影分析系統(tǒng)-SS445 是Microvison 專門為大屏幕投影顯示測量而設(shè)計一款產(chǎn)品，適用于所有投影技術(shù)，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影儀、仿真器等。SS445采用計算機控制的Pan & Tilt定位系統(tǒng)，從而移動到所需的測試點，配置的140萬像素CCD相機，具有自動對焦功能，可以測量MTF、亮度、均勻度、伽馬等，而配置的分光光譜輻射計可以用于亮度和色度的測量。測量時，一般放置在三腳架上或投影屏幕前的桌子上，從觀察者的角度進行測量，從而更好地表征用戶體驗。
工作原理：
Microvision SS445是專門為大屏幕顯示器設(shè)計的顯示測量系統(tǒng)。這包括采用任何現(xiàn)有投影引擎技術(shù)的，直至劇院大小的投影顯示器。該系統(tǒng)使用電動平移和傾斜機構(gòu)移動到所需的測試位置。該系統(tǒng)可以配置有1.4MP CCD相機和/或衍射光柵光譜儀。在操作過程中，系統(tǒng)位于待測顯示器的前面。圖形生成器或Microvision的MVRemote用于自動顯示測試圖形，或者如有需要，客戶的系統(tǒng)可以生成圖像。SS445旨在從觀察者的角度對顯示器進行測量，從而更好地表現(xiàn)出實際看到的顯示器性能?？梢钥焖贉y量幾個觀察者位置，從而定義顯示。在操作員輸入所需的測試位置（X＆Y或像素坐標）的情況下，測試可以自動化，并且系統(tǒng)將在這些位置自動查找并運行選定的測試。
產(chǎn)品亮點：
- 適合超大屏幕測量
- 基于觀測者角度測量，更好地表征用戶體驗
- 多功能集合體，設(shè)計緊湊
- 包含集成信號源
- 具備MV remote模式，通過WiFi連接和測量移動設(shè)備
- 自動化測試
- 程序自動控溫，精確測量
- 包含MV系統(tǒng)軟件，操作界面友好
- 提供完整測試方案
- 用戶可自定義客制化測試
- NIST可溯源校準
應(yīng)用范圍：
- 投影顯示 – DLP、LCOS、家用投影、影院投影、后屏投影儀、仿真器等
- 平板顯示（FPD）- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma
- CRT顯示 – 單色，彩色，高分辨率醫(yī)學顯示器
激光投影光色性能分析儀-激光顯示光學測試系統(tǒng)-LCOS激光投影分析系統(tǒng)-SS445技術(shù)參數(shù)：
CCD相機
- 圖像傳感器：1392×1040 像素
- 數(shù)字視頻：12-位
- 元件尺寸：6.45 μm/像素
- 同步性：同步捕獲
- 濾鏡：適光性 50%, 20%, 10% & 1% ND
- 標準鏡頭：25mm C mount, f1.6 – f16
- 視場：20mm@1m,可調(diào)節(jié)
- 工作距離范圍：0.5~3.5 m
- 亮度精度：± 4% @ 2856K Ill.A
- 亮度范圍：0.05 ~ 106 cd/m2 （含ND濾鏡）
- 測量時間：對于多數(shù)測量<1 sec
Spectrometer + Goniometer 光譜輻射計+測角儀
- 測角儀傾斜角：0~85°
- 測角儀方位角：0~360°
- 波長范圍：380 ~ 780nm (1000nm可選)
- 亮度范圍：0.01 ~ 500K cd/m2
- 亮度精度：±3% @ 2856K Ill.A
- 亮度重復(fù)率：超過30分鐘RSD < 0.5%,0.01 cd/m2靈敏度@ 3% RSD
- 色彩準確度：± 0.002 @ 2856K Ill.A
- 色彩重復(fù)率：± 0.0005 @ 2856K Ill.A
- 溫度管理：電腦自動控制
- 光學器件：12mm 準直
- 視場角：1.5°
- 數(shù)字分辨率：16 bit A/D
- 積分時間：16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)
- 光學分辨率：3.8nm半高寬 @ 100μm狹縫
- 校準：NIST可追溯
- 操作溫度：5~ 30℃
Pan & Tilt 位移臺
- 分辨率：0.0032°
- 載荷量：9 lbs
升級選項：
- 精準位移臺（搭配位移臺，可精確位移從而實現(xiàn)自動測試）
- 提升測量范圍（適用ND濾光片，提高感光器件的測試范圍）
測試案例:
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