鍵盤按鍵壽命試驗機

YTX-KLT-E，源泰鑫儀器

本機可測試筆記本計算機、手機、掌上計算機等的按鍵和其它各種按鈕、開關(guān)的耐久壽命。

能同時測試數(shù)個產(chǎn)品（每個產(chǎn)品均可多點測試），另每個按鍵可設(shè)定不同壓力及不同高低的按壓力。

技術(shù)規(guī)格：

動作行程 10mm（固定）

工件高低調(diào)整范圍 100mm

夾具夾持能力 400×300mm

測頭安裝范圍 350×250mm

試驗次數(shù) 999999×10次

試驗速度 60-300Rpm

荷重范圍 50-450g

測頭高低調(diào)整 15mm

測頭數(shù)量 15個

兩支測頭最小間隔 

X方向10mm,Y方向20mm

外觀尺寸 520×420×980mm

重量 110kg

電壓 AC 220V