晶圓檢測儀，多晶硅缺陷分析儀，太陽能硅板檢測儀，太陽能光伏單晶硅片缺陷分析

一：蔡康晶圓檢測儀，多晶硅缺陷分析儀，太陽能硅板檢測儀DJM-200C概述和硅片缺陷檢測方法和應(yīng)用范圍：

一、大平臺太陽能硅片缺陷分析金相顯微鏡儀器的主要用途和特點
DJM-200C系列反射明暗場大平臺太陽能硅片缺陷分析金相顯微鏡可進(jìn)行明視場、暗視場、簡易偏光觀察。是半導(dǎo)體檢驗、電路封狀、電路基板、材料等行業(yè)理想儀器。 DMM-990大平臺晶圓缺陷分析金相顯微鏡具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，是材料學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。適用于學(xué)校、科研、工廠等部門使用。 DMM-990高級正置金相顯微鏡，選用優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡，是針對半導(dǎo)體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的，作為高級工業(yè)金相顯微鏡使用?？蛇M(jìn)行明暗場觀察、落射偏光、廣泛用于工廠、研究機(jī)構(gòu)、高等院校對太陽能電池硅片、半導(dǎo)體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。
性能特點
▲ 配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)，視場大而清晰。
▲ 粗微動同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)，粗動松緊可調(diào)，帶限位鎖緊裝置，微動格值:0.8μm。
▲ 配置大移動范圍栽物臺，移動范圍：8英寸*8英寸（204mm*204mm)。
▲ 三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察，明視場/，可進(jìn)行99%透光攝影。
▲ 6V30W鹵素?zé)?，亮度可調(diào)。
DMM-990C電腦型三目正置大平臺單晶硅缺陷分析儀金相顯微鏡是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、的計算機(jī)成像技術(shù)地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。既可人工觀察金相圖像,又可以在數(shù)碼相機(jī)顯示器上很方便地適時觀察金相圖像，并可隨時捕捉記錄金相圖片,從而對金相圖譜進(jìn)行分析,評級等,還可以保存或打印出高像素金相照片。

1. 蔡康單晶硅缺陷分析儀DJM-200C利用工業(yè)級彩色高速攝象器進(jìn)行圖像或者視頻采集，高倍蔡康光學(xué)單晶硅片顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于計算機(jī)，直接實時觀察熔深焊接形貌，利用專用軟件進(jìn)行熔深測量處理，形態(tài)統(tǒng)計分析，并打印出熔深分析報告。

1.硅片缺陷分析儀DJM-200

2.電腦適配鏡