TH系列 高低溫試驗(yàn)箱
性能特點(diǎn):
1、雙層門封結(jié)構(gòu),保證腔內(nèi)能量不易散失;
2、試驗(yàn)箱大門裝有照明觀察窗,可方便觀察樣品的試驗(yàn)狀態(tài);
3、具有較寬的溫度、濕度調(diào)節(jié)控制范圍,可滿足用戶的各種需要;
4、本試驗(yàn)箱具有隨溫度的設(shè)定數(shù)值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)冷回路的性能。操作簡(jiǎn)單。本設(shè)備有超壓保護(hù)壓縮機(jī)功能;
5、采用*平衡式溫度調(diào)節(jié)方式,可調(diào)節(jié)理想的溫度環(huán)境,并具有穩(wěn)定平衡式加熱能力,可進(jìn)行高精密、高穩(wěn)定的溫度控制,并具有定時(shí)和超溫報(bào)警功;



TH系列 高低溫試驗(yàn)箱
加熱系統(tǒng)
1、高溫*獨(dú)立系統(tǒng),不影響低溫試驗(yàn);
2、加熱采用遠(yuǎn)紅外鎳鉻合金高速加溫電熱絲;
3、溫度控制采用PD+SR,系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制;
4、溫度控制輸出功率由微電腦演算,以達(dá)高精度及高效率之用電效益。



執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008技術(shù)條件(溫度交變)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)A;低溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)B;高溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)N;溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部:高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部:低溫試驗(yàn)

























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