產(chǎn)品名稱：三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱（水冷式）

產(chǎn)品型號：FM-50S

產(chǎn)品用途：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱（也成溫度沖擊試驗(yàn)箱）用于檢測材料在瞬間經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，籍以在最短的時(shí)間內(nèi) 試驗(yàn)因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化和物理傷害來確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)

產(chǎn)品定位：

適用于科研機(jī)構(gòu)，塑膠制品、電子產(chǎn)品、包裝材料、車載攝像頭、化妝品、電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之用。

工作模式：

三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱分為分為高溫箱,常溫箱、低溫箱三部分,采之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測物通過高溫-常溫-低溫循環(huán)移動(dòng)，以達(dá)到冷熱沖擊測試目的。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB 10592-89 高、 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T10589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 2423.2-2001 高溫

GB/T 2423.1-2001 低溫

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗(yàn)方法 Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法 Bb

GJB150.4-1986 低溫試驗(yàn)

GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn)

JIS C60068-2-2-1995 試驗(yàn) B:干熱

JIS C60068-2-1-1995 試驗(yàn) A:低

JIS C60068-2-1-1995 試驗(yàn) A:低溫

JESD22-A103-C-2004 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)

JESD22-A119-2004 低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)

JESD22-A119-2004 低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)

MIL-STD-810F-501.4 高溫

MIL-STD883C 方法 1004.2

MIL-STD810 方法 507.2 程序 3

MIL-STD-810F-502.4 低溫

IEC68-2-01_試驗(yàn)方法 A_冷

GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法；

GB/T2423.2-2001；

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N；

標(biāo)GJB150.3-86；

標(biāo)GJB150.4-86；

標(biāo)GJB150.5-86；

GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；

GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)；

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；

滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化；

GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；

GB/T 2423.22-2002溫度變化；

QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則；

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

IEC68-2-02_試驗(yàn)方法 B_干熱

IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A_冷

IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B_干熱