TG-61321D高低溫沖擊試驗箱儀器設備用途：

高低溫沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料，在瞬間下經溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適用的對象包括汽車電子/部件、LED/LCD/PDP顯示照明、電子電工、儀器儀表、新能源/電子元件/電器、塑膠/橡膠/薄膜、科研/質檢/院校/醫(yī)療器材、PCB/FPC/HDI/MPCB/IC等行業(yè)領域等材料，可作為其產品品質驗證或改進的依據和參考。

TG-61321D高低溫沖擊試驗箱構造概述：

高低溫沖擊試驗箱/冷熱高溫低溫試驗室，因為冷熱沖擊試驗箱也是高低溫沖擊試驗箱，所以三槽冷熱沖擊試驗箱也是三槽高低溫沖擊試驗箱。主要結構是由三個槽（高溫槽、低溫槽、產品槽）組成，高溫槽即是生產及儲存高溫，低溫槽即是生產及儲存低溫，產品槽則是提供給顧客擺放產品的空間容積。沖擊原理是采用氣體驅逐高、低溫槽的冷熱溫到擺放產品槽的空間內完成試驗。

TG-61321D高低溫沖擊試驗箱適用于標準:

1：GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件；

2：GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

3：GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

4：GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；:

5：GJB 150.3-86 設備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗；

6：GJB/T 150.4-2009設備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗；:

7：GJB/T 150.5-86 設備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。

8：GJB150.5- 86溫度沖擊試驗;

9：GJB360.7-87溫度沖擊試驗;

10：GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;

11：GB11158-2008高溫試驗箱技術條件

12：GB10589-2008低溫試驗箱技術條件

TG-61321C高低溫沖擊試驗箱產品特點：

1： 泰規(guī)儀器生產的新一代高低溫沖擊試驗箱（3箱），箱體結構、制冷系統(tǒng)、控制技術均有較大的技術改革，運行更可靠，維護更方便。

2：制冷機采用原裝進口“泰康”或“ 比澤爾”。

3：控制系統(tǒng)采用彩色觸摸屏中英文顯示按鍵式操作，外觀更加簡單大方，操作設定簡單。

4：高低溫沖擊試驗箱根據待測試樣的特殊性，分為兩箱式幼態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊。本產品既可作冷熱沖擊實驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。

5：測試樣品一直處于靜止狀態(tài)，減少對樣品的機械沖擊，其溫度轉換通過氣動系統(tǒng)打開（關閉）不同風門來實現，有測試孔，可帶電，帶信號，帶氣源測試。可實現5℃/min-30℃/min可調。

6：高低溫沖擊試驗箱配備: SD卡儲存，USB輸出，電腦連接打印，大艙有紙無紙記錄等選配。

7：箱體加工采用數控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。殼體采用優(yōu)質碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理或（選配）SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理，內部材質均采用SU304高級不銹鋼材質。

8：高低溫沖擊試驗箱配備大型觀測視窗附國際品牌照明燈保持箱內明亮，且利用發(fā)熱體內嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。

TG-61321D高低溫沖擊試驗箱技術參數：