產(chǎn)品簡介
針對RoHS檢測設(shè)計開發(fā)
測量貴金屬如金、銀、鉑等效果甚佳
分析測量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
提供專業(yè)玩具安全檢測,亦可用于測量鍍層厚度和全元素分析
| 全自動X熒光光譜儀UX-310配置與參數(shù) | |
| 探測器 | Amptek X-123 配置原廠MCA |
| 高壓電源 | Spellman MNX50P50 |
| X光管 | 丹東 專用X光管 Mo靶 |
| 自動化操作系統(tǒng) | 華唯磚利設(shè)計 實現(xiàn)：原級濾光片、準直器、二次濾光片、樣品及測試區(qū)域定位、樣品蓋開關(guān)、工作曲線選擇全自動 |
| 分析軟件 | UX-310專用版 V6.0 多元素分析軟件、 鍍層膜厚分析軟件（二選一） |
| 技術(shù)參數(shù) | |
| 儀器尺寸 | 570 (W)* 470(D)*480(H)mm |
| 樣品腔尺寸 | 小樣品腔：300(W)*300(D)*100(H)mm； 大樣品腔：無限制，小于30公斤 |
| 重量 | 凈重:50Kg |
| 工作環(huán)境 | 15—30℃ 相對濕度≤85%(不結(jié)露) |
| 可分析元素范圍 | K-U |
| *低檢出限 | Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm |
| 測量時間 | 200-400s |
| 探測器*佳分辨率 | 149±5eV |
| 電源 | AC 220V ± 10%，50Hz 1000W |
| 選配件 | |
| 多元素分析軟件、膜厚分析軟件（二選一） | |
| 六價鉻測試儀（可進行六價鉻的定量分析） | |
| 真空系統(tǒng) （可真空測氯，*低檢出限≤50PPm） | |
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移動站：X熒光光譜儀UX-310
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