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制藥網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>儀器儀表>光學分析儀器>CCD相機> 近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W

  • 近紅外顯微分光測定儀            USPM-RU-W
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具體成交價以合同協(xié)議為準
品牌

廠商性質

其他

型號

訪問次數(shù)

548

產(chǎn)地

上海

更新時間

2023/11/28 11:40:56

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產(chǎn)品簡介

近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W

近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W詳細信息


從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定


奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。

由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率,因此十分適用于光學元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。





實的測定功能

使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。

測定反射率
測定以物鏡聚光φ17~70μm的微小點的反射率。

反射率測定光路圖

  
反射率測定例:鏡片                                  反射率測定例:鏡片周邊部位


膜厚測定的圖例

測定膜厚


活用反射率數(shù)據(jù),測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。

 

測定物體顏色


根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b色度圖及相關數(shù)值。              

測定透過率

從受臺下部透過φ2mm的平行光,測定平面樣品的透過率。(選配)

透過率測定光路圖


測定入射角為45度的反射率
從側面向45度面反射φ2mm的平行光,測定其反射率。(選配)

45度反射率測定光路圖
域的高精度&高速測定

  

光學系圖

實現(xiàn)高速測定


使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定,從而實現(xiàn)高速測定。


                                                                   反射率測定圖例  

                       

*適用于測定細小部件、鏡片的反射率


新設計了可以在φ17~70μm的測定區(qū)域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面,也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。

                               

消除背面反射光的原理                                         

定反射率時,不需要背面防反射處理


將專用物鏡與環(huán)形照明組合,不需要進行被檢測物背面的防反射處理,就可測定*薄0.2mm的反射率*。

可選擇的膜厚測定方法
根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進行單層膜或多層膜的膜厚解析??梢愿鶕?jù)用途選擇*佳的測定方法。

                                                               

峰谷法膜厚解析經(jīng)過信息圖例

峰谷法

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法,對于測定單層膜是有效的。不需要復雜的設置,可以簡單地求出。


  

                                                                               

傅里葉轉換法膜厚解析經(jīng)過信息圖例

傅里葉轉換法

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的周期性計算膜厚的方法,對于單層膜及多層膜的測定有效。難以檢測出峰值及低谷等時,可以幾乎不受噪音的影響進行解析。

  

                                                                                                         

曲線調整法膜厚解析經(jīng)過信息圖例

曲線調整法


這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據(jù)某種膜構造計算的反射率的差達到*小的構造計算出膜厚的方法,對于單層膜及多層膜的測定有效。還可以進行不會出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。


多樣化應用
高速、高精度地應對多樣化測定需求。

                                
通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率,進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。


數(shù)碼相機鏡片

投影儀鏡片
光讀取頭鏡片
眼鏡片




適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。


LED包裝
半導體基板




適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。


液晶彩色濾鏡
光學薄膜




適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測定。                                  


棱鏡
反射鏡




USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀規(guī)格:

 

反射率測定 透過率測定*1 45度反射測定*1
名稱 近紅外顯微分光測定儀 近紅外顯微分光測定儀用 
透過測定選配件
近紅外顯微分光測定儀用 
45度反射測定選配件
型號 USPM-RU-W
測定波長 380~1050nm
測定方法 對參照樣品的比較測定 對99%基準的透過率測定 對參照樣品的比較測定
測定范圍 參照下列對物鏡的規(guī)格 約?2.0mm
測定 
再現(xiàn)性(3σ)*2
反射率測定 使用10×、20×物鏡時 ±0.02[%]以下(430-1010nm)、 
±0.2[%]以下(上述以外)
±1.25[%]以下(430-1010nm)、 
±5.0[%]以下(左側記載除外)
使用40×物鏡時 ±0.05[%]以下(430-950nm)、 
±0.5[%]以下(上述以外)

 

厚膜測定 ±1% -
波長顯示分解能 1nm
照明附件 專用鹵素燈光源  JC12V 55W(平均壽命700h)
位移受臺 承載面尺寸:200(W)×200(D)mm   
承重:3 kg 
工作范圍:(XY) ±40mm, (Z)125mm
傾斜受臺 - 承載面尺寸: 140(W)×140(D)mm 
承重: 1 kg 
工作范圍:(XT) ±1°, (YT) ±1°
裝置質量 主體:約26 kg(PC除外) 主體:約31 kg(PC除外)*3
控制電源箱:約6.7kg
裝置尺寸 主體部位:360(W)×446(D)×606(H)mm 主體部位:360(W)×631(D)×606(H)mm
控制電源箱:250(W)×270(D)×125(H)mm
電源規(guī)格 輸入規(guī)格:100-240V (110VA) 50/60Hz
使用環(huán)境 水平無振動的場所 
溫度:15~30℃ 
濕度:15~60%RH(無結露)

*1 選件組件  *2 本社測定條件下的測定  *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。

對物鏡
型號 USPM-OBL10X USPM-OBL20X USPM-OBL40X
倍率 10x 20x 40x
NA 0.12 0.24 0.24
測定范圍*4 70μm 34μm 17μm
工作距離 14.3mm 4.2mm 2.2mm
樣品的曲率半徑 ±5mm~ ±1mm~ ±1mm~

*4 點徑

關鍵詞:傳感器

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