英文名稱：Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Chamber

產(chǎn)品別名：高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)機(jī)、溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)機(jī)、高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)機(jī)、無(wú)偏置電壓UHAST未飽和高壓蒸汽試驗(yàn)機(jī)、穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化試驗(yàn)機(jī)、BHAST。

產(chǎn)品用途：用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性，對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。

執(zhí)行試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗(yàn).第2-66部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

JESD22-A118溫濕度無(wú)偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

產(chǎn)品參數(shù)

PCT高壓蒸煮試驗(yàn)箱 HAS試驗(yàn)箱（自動(dòng)門） HAST高壓加速老化箱 UHAST/BHAST

產(chǎn)品特點(diǎn)：

◎內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計(jì),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受過(guò)熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。

◎產(chǎn)品滿足JESD22-A100至A118偏壓（BHAST）或不偏壓（UHAST）加速抗?jié)裥栽囼?yàn)以及飽和高壓蒸汽（蒸煮）試驗(yàn)。

◎產(chǎn)品兼容高加速溫濕度應(yīng)力HAST老化試驗(yàn)和高壓蒸煮PCT抗?jié)裥栽囼?yàn)。

試驗(yàn)方法說(shuō)明：

1. JESD22-A101-C:穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）

ê試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，和元件加偏壓的時(shí)間

ê常用測(cè)試條件：85℃±2/85%R.H±5/7.12psia（49.1kpa）/8mA/1000h

2.JESD22-A110 ：HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

ê常用測(cè)試條件：

130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h

3.JESD22-A118：溫濕度無(wú)偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

ê試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，蒸汽壓力和時(shí)間

ê常用測(cè)試條件：

130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h（264h）和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h（96h）樣品數(shù)25ea/lot , 3lots

4. JESD22-A102-E：PCT高壓蒸煮試驗(yàn)

5. JESD22-A102-D：PCT無(wú)偏壓高壓加速抗?jié)裥栽囼?yàn)

ê試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，蒸汽壓力和持續(xù)時(shí)間

ê常用測(cè)試條件：121℃±2/99%R.H/29.7psia（205kpa）/24h,48h,96h,168h,240h,336h