公司介紹：美國(guó)麥奇克有限公司（MicrotracInc.）是的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，其*的激光粒度分析儀已廣泛應(yīng)用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，等領(lǐng)域，并成為眾多行業(yè)的質(zhì)量檢測(cè)和控制的分析儀器

公司介紹：

美 國(guó)麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，其*的激光粒度分析儀已廣泛應(yīng)用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，等領(lǐng)域，并成為眾多行業(yè)的質(zhì)量檢測(cè)和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術(shù)創(chuàng)新，近半個(gè)世紀(jì)以來，一直著激光粒度分析的前沿技術(shù)，可靠的產(chǎn)品和*的應(yīng)用支持及*的售后服務(wù)，使得其不斷超越自我，推陳出新，。

Microtrac在在線顆粒大小和形狀測(cè)量方面有超過25年經(jīng)驗(yàn)，了解過程加工環(huán)境的所有需求，在線測(cè)量的好處就是讓操作者能實(shí)時(shí)的看到過程的變化，使他們立即作出反應(yīng)，得到高質(zhì)量的產(chǎn)品。

Microtrac S3500系列產(chǎn)品
藍(lán)波2型(BWDL)):濕法測(cè)量范圍：0.01-2,800μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,800μm藍(lán)波1型(BWSL)):濕法測(cè)量范圍：0.01-2,000μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,000μm
增強(qiáng)型(Enhanced):濕法測(cè)量范圍：0.02-2,800μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,800μm
擴(kuò)展型(eXtended):濕法測(cè)量范圍：0.02-2,000μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,000μm
特殊型(speciaL) : 濕法測(cè)量范圍：0.09-1,500μm；干法測(cè)量范圍：0.25-1,500μm
標(biāo)準(zhǔn)型(Standard):濕法測(cè)量范圍：0.25-1,500μm；干法測(cè)量范圍：0.25-1,500μm
型(High) : 濕法測(cè)量范圍：2.75-2,800μm；干法測(cè)量范圍：2.75-2,800μm
基本型(Basic) : 濕法測(cè)量范圍：0.70-1,000μm；干法測(cè)量范圍：0.70-1,000μm

技術(shù)參數(shù)：
﹡測(cè)量范圍:0.01μm-2,800μm; 測(cè)量精度:0.6%; 測(cè)量時(shí)間:10-30 秒; 所需樣品量:0.05-2g;
兼容性:與任何常用有機(jī)溶劑兼容
﹡光源: 三束3mW 780nm固體二極管激光器, 電腦控制自動(dòng)校準(zhǔn); 準(zhǔn)直功能:電腦控制自動(dòng)對(duì)光;
光路:固定光學(xué)平臺(tái),傅利葉光路結(jié)合雙透鏡技術(shù)
﹡接受角度:0.02-163°; 檢測(cè)器:高靈敏硅光電二極管; 檢測(cè)器數(shù)量:151個(gè)對(duì)數(shù)方式優(yōu)化排列
﹡操作靈活:兼容 Windows 98, 2000, NT和XP等操作系統(tǒng); 報(bào)告格式:體積,數(shù)量和面積分布,包
括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)以ODBC形式輸出兼容其他統(tǒng)計(jì)分析軟件和文字
處理軟件; 安全性:數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11 安全要求
﹡環(huán)境要求:溫度10-35℃; 相對(duì)濕度:小于90%; 電源要求:90-240 VAC, 5A,50/60Hz; 主機(jī)
尺寸:高度33cm, 寬度55.9cm, 深度37.5cm, 重量25Kg
﹡標(biāo)準(zhǔn)化:符合ISO 13320-1 激光粒度分析國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
﹡完整配置:固定光學(xué)平臺(tái), 樣品分散系統(tǒng), 計(jì)算機(jī)/打印機(jī), 數(shù)據(jù)處理軟件

主要特點(diǎn)：
﹡Tri-Laser激光系統(tǒng), 消除了不同波長(zhǎng)光源對(duì)顆粒散射光分布“連接點(diǎn)”的影響和
多次米氏理論（Mie Theory）數(shù)學(xué)處理的誤差（米氏理論處理與波長(zhǎng)有關(guān)）。
﹡“Bluewave”激光技術(shù)，拓展測(cè)量下限至0.01μm。
﹡無需掃描，同步接受全量程散射光信號(hào)，保證分
析結(jié)果的高重現(xiàn)性及全量程范圍的高分辨率。
﹡引進(jìn)“非球形”顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因子，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù)，
提高顆粒粒度分布測(cè)試的準(zhǔn)確性。
﹡系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)光，內(nèi)置輔助光源用于檢驗(yàn)和校正檢測(cè)器的靈敏度。
﹡多種樣品分散系統(tǒng)可供選擇，各種分散系統(tǒng)之間的轉(zhuǎn)換簡(jiǎn)單方便，結(jié)果穩(wěn)定一致。
﹡現(xiàn)代模塊式設(shè)計(jì)，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需要允許選擇儀器的配置，以滿足將來的任何需要。
﹡數(shù)據(jù)處理靈活方便，體積分布，數(shù)量分布和強(qiáng)度分布，微分與累計(jì)百分比以及其他綜合報(bào)告
形式任意組合，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)兼容性強(qiáng)。
﹡ NIST(National Institute of Standards & Technology)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)認(rèn)證儀器。