貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平，升級版PIDS技術（號：4953978；5104221）、優(yōu)化的132枚檢測器，保證了儀器分辨率更高，結果更準確，再現性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。PIDS技術，真正實現10nm粒徑測量；新型的干、濕進樣模塊，“即插即用”，滿足不同的分析要求，靈活便利；直觀的軟件和觸摸屏設計，大大簡化了儀器的操作，僅需點擊幾次便可獲得所需數據。LS 13 320 XR將為您帶來測量的新體驗！

主要特點

? 優(yōu)于ISO 13 320技術標準
? 符合FDA的21 CFR Part 11標準
? 檢測器數量更多，高達132枚獨立物理位置檢測器，對應高達136個真實數據通道，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、準確的真實粒度測量。
? 設計的“X”型對數排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，不管單峰、多峰，準確分析粒度分布。
? 全自動運算分析功能，多峰自動檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報告。
? 升級版PIDS技術提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實現10nm下限峰值測量。
? PIDS技術不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。
? 納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能*，真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。
? 新一代固體激光光源，無需預熱，7萬小時以上開機使用壽命 。
? 并行式信號采集與傳輸，確保信號保持高信噪比、無時差、高通量。
? 多波長和偏振光分析技術令粒度分布在寬動態(tài)范圍內的準確性分析獲得高度保障。
? 多種自動化樣品分散系統(tǒng)，“即插即用”，數秒即可完成切換，高效便利。
? 新一代觸摸屏設計ADAPT分析軟件，操作更直觀，無需操作經驗，簡單三步完成測量，直觀醒目的導航輪，僅需一步實現數據顯示與導出。
? ADAPT軟件自動對測量結果標準綠色或紅色，自動合格/不合格管理，實現直接質控。
? 軟件配有*的光學參數數據庫，具有創(chuàng)新的“Zero-Time”即時光學模型系統(tǒng)，只需一秒即可建立新的光學模型，提供客觀準確的分析報告。
? 儀器配有自檢診斷功能，測試過程中隨時顯示測量情況。

技術參數：

? 粒徑范圍：10納米-3500微米 （峰值）
? 主光路激光光源：光纖連接的固體激光器
? 檢測器：132枚獨立物理角度檢測器
? 真實分析通道：136個
? 多波長測量：475nm、613nm、785nm及900nm
? 光學理論模型：全程Mie理論；Fraunhofer理論
? 準確性誤差：小于+/- 0.5%
? 重現性誤差：小于+/- 0.5%