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FM-Nanoview EC-AFM產(chǎn)品特點(diǎn)

• 光學(xué)金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設(shè)計，功能*
• 同時具備光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時工作，互不影響
• 可同時在普通空氣環(huán)境、液體環(huán)境、溫度控制環(huán)境、惰性氣體控制環(huán)境下工作
• 樣品掃描臺和激光檢測頭封閉式設(shè)計，內(nèi)部可充放特殊氣體，無需增加密封罩
• 激光檢測采用了垂直光路設(shè)計，配合氣液兩用型探針架可在液體下工作
• 單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
• 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品
• 超高倍光學(xué)定位系統(tǒng)，實現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位
• 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98%

應(yīng)用案例

EC-AFM技術(shù)參數(shù)