| 參考價 | 面議 |
產(chǎn)品簡介
DIL 806采用了陰影光的方法。
DIL806測量本質(zhì)上是一個的測量，不受隨溫度程序變化的系統(tǒng)熱膨脹的影響。
DIL806采用了創(chuàng)新的板形爐，提供了的溫度均勻性和響應(yīng)時間。
非接觸式測量的*性。
DIL806提供了的靈活性的樣品類型和制樣。
光學(xué)膨脹測量。
100 μm 高的檢測區(qū)域。
樣品的水平和垂直方向均可實現(xiàn)均勻的溫度。
測量方法無需校準(zhǔn)和校正。
不僅可在空氣中分析樣品，還可在真空和惰性氣體中進行分析（這是金屬和金屬合金分析的關(guān)鍵要求）。
| 樣品長度： | 0.3 – 30 mm |
| 樣品高度： | 刪除/廣泛 10 mm |
| 位移變化： | 刪除/廣泛 29 mm |
| 位移分辨率： | 50 nm |
| 溫度分辨率： | 0.1 ℃ |
| α 準(zhǔn)確度： | 0.03 x 10-6 K-1 |
| 溫度范圍： | -150 ℃ 至 -600 ℃、室溫到 900 ?C 、室溫到 1400 ?C |
| 氣氛： | 真空、惰性氣體、空氣、DIL 806L: 空氣 |
陶瓷釉料、原料與燒結(jié)后的陶瓷、玻璃化轉(zhuǎn)變和軟化溫度、燒結(jié)過程、薄膜的熱膨脹、快速燒成陶瓷等。
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移動站：光學(xué)熱膨脹儀
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