1 名稱 1000L冷熱沖擊試驗箱

2 主要技術參數(shù)

2.1 測試環(huán)境條件環(huán)境溫度為 23℃±3℃、相對濕度 35％～65％RH、試驗箱在“模擬負載”條
件下。
2.2 設備型號ASR-GH2CJ-1000FW
2.3 設備名稱水平兩溫區(qū)高低溫沖擊試驗箱
2.4 標稱內(nèi)容積1000 L
2.5 提籃尺寸W1000mm×D1000mm×H1000mm
2.6 外形尺寸（參考， 具體以設計為準）W4155mm×D2120mm×H2100mm（參考，以實際設計為準） 備注：尺寸不包括凸出部分（如把手、控制器等）。
2.7 試驗方式對開門水平移動兩箱提籃式。

2.8 溫度沖擊范圍及精度沖擊范圍：
-60℃～+150℃（高溫 60℃～+180℃，低溫-70℃～-10℃） 精度：
溫度波動度±0.3℃
溫度偏差±1.6℃ 溫度均勻度≤1.6℃

2.9 高溫區(qū)溫度曝露范圍+60℃～+150℃
預熱溫度上限180℃
升溫速率R.T.→＋180℃<40min（單獨運行時性能）

2.10 低溫區(qū)溫度曝露范圍-60℃～-10℃
預冷溫度下限-70℃
降溫速率R.T.→-70℃<60min（單獨運行時性能）

2.11 試驗區(qū)（提籃）高溫曝露溫度范
圍
+60℃～+150℃
低溫曝露溫度范
圍-60℃～-10℃
溫度波動度≤ ±0.3℃

溫度偏差±1.6℃
2.12 曝露（駐留）時間30min
2.13 提籃轉(zhuǎn)換時間≤10s

2.14 溫度恢復時間≤5min
(a. 在帶載 30kg 鋁錠或等效塑封 IC、電路板)時，高溫 80℃暴露，低溫- 40℃暴露，暴露時間均為 30min；
(b. 在帶載 30kg 鋼鐵或等效塑封IC、電路板)時，高溫 150℃暴露 30min，
低溫- 60℃暴露均為 30min。

2.15 穩(wěn)定時間設備中心點溫度達到溫度后，再到達穩(wěn)定條件（可實現(xiàn)計量和驗收條
件）的時間需小于 30 分鐘。

2.16 運行方式(1)通過控制器需可選擇運行方式：溫度沖擊試驗、溫度浸泡試驗；溫度浸泡試驗指的是：沖擊箱可以當做獨立的低溫箱或者高溫箱來使用
（通過讓吊籃切換周期變長實現(xiàn)）；
(2)沖擊起始選擇：可以自由選擇沖擊試驗的起始點從高溫區(qū)開始或者從低溫區(qū)開始；

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