快速測量 操作簡單 非接觸式 非破壞性 的再現(xiàn)性 再現(xiàn)能力 基于用戶友好界面的Windows操作 圖像打印功能 數(shù)據(jù)保存
產(chǎn)品簡介:
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標(biāo)準(zhǔn)模式
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工業(yè)規(guī)格
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適合科研中心
| | 尺寸 | 500 x 610 x 640 mm | | 重量 | 45Kg | | 類型 | 手動的 | | 測量樣本大小 | ≤ 8", 12" | | 測量方法 | 無連接的 | | 測量原理 | 反射計(jì) | | 特點(diǎn) | 測量迅速,操作簡單 非接觸式,非破壞方式 Print Function of Each View & Data Saving | | 活動范圍 | 200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12") | | 測量范圍 | 100?~ 35?(Depends on Film Type) | | 光斑尺寸 | 40?/20?, 4?(option) | | 測量速度 | 1~2 sec./site | | 應(yīng)用領(lǐng)域 | All Capability of ST2000 & More Precision Measurement Intended for Wafer Measurement & OLED | | 選項(xiàng) | Programmable Auto Z Stage 參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST) | | 焦點(diǎn) | Coaxial Coarse and Fine Focus Controls | | 附帶照明 | 12v 100W Halogen Lamp | |
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