| 參考價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品簡介
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
| SGW®X-4 | SGW®X-4A | SGW®X-4B | |
| 熔點(diǎn)測(cè)量范圍 | 室溫至320℃ | 室溫至320℃ | 室溫至320℃ |
| 測(cè)量重復(fù)性 | ±1℃ (在<200℃ 時(shí))；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)) | ±1℃ (在<200℃ 時(shí))；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)) | ±1℃ (在<200℃ 時(shí))；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)) |
| 溫度顯示最小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
| 熔點(diǎn)觀察方式 | 單目顯微鏡 | 單目顯微鏡 | 雙目體視顯微鏡 |
| 光學(xué)放大倍數(shù) | 40× | 40× | 40×-100×連續(xù)變倍 |
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移動(dòng)站：SGW X-4 SGW X-4A SGW?X-4B顯微熔點(diǎn)儀
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