步入式高低溫環(huán)境實驗室在擁有大型試驗空間的設(shè)備，適合大型或者量多的產(chǎn)品定做。特別適用于：航天、航空、軍事、通訊、電子、電器、汽車、光電、石油、化工、醫(yī)療、制藥、機械、高等院校、科研單位等各個*域。

步入式高低溫環(huán)境實驗室技術(shù)參數(shù)：

●　型號有：AP-KF-08 ，AP-KF-10，AP-KF-12，AP-KF-18，AP-KF-20，AP-KF-30，AP-KF-50

●　標稱內(nèi)容積(立方米)：約8- 50

●　溫度范圍： -20℃～+85℃，-40℃～+85℃， -70℃～+85℃

●　濕度范圍：30～98%RH(可加濕度功能也可不加濕度功能）

●　溫度波動度：±0.5℃

●　溫度偏差： ±2.0℃

●　濕度偏差： ±3.0%RH(>75%RH)，±5.0%RH(≤75%RH)

●　升溫時間：≤30分鐘：-20℃→+85℃，-40℃→+85℃，-70℃→+85℃

●　降溫時間：≤40分鐘：+25℃→-20℃，≤60分鐘：+25℃→-40℃，≤920分鐘：+25℃→-60℃

●　調(diào)溫調(diào)濕方式：    BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式     

●　電源：AC380(1±10%)V  (50±0.5)Hz  三相四線+保護地線

●　使用環(huán)境：溫度：+5℃～+35℃；濕度：≤85%RH；大氣壓力：86～106kPa

●　電源*大電流(A)與功率(KW)：根據(jù)顧客選擇的尺寸大小及溫度范圍而定。

符合標準:

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗

GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求