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真空衰減密封完整性測試儀 無損密封試驗儀

參考價 2998
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱山東普創(chuàng)工業(yè)科技有限公司
  • 品       牌Paratronix/普創(chuàng)
  • 型       號MLT-V100(T)
  • 所  在  地濟南市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2025/2/13 15:57:22
  • 訪問次數(shù)1564
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Paratronix普創(chuàng)是一家專業(yè)從事包檢測理論研究與檢測硬件開發(fā)并具有獨立的自主知識產(chǎn)權(quán)的高科技企業(yè)。產(chǎn)品廣泛服務(wù)于國家質(zhì)檢藥檢機構(gòu)、印刷、包裝、醫(yī)藥、日化、科研院校、食品、醫(yī)藥、化工、新能源、新材料等領(lǐng)域。

Paratronix普創(chuàng)一直以客戶需求為導(dǎo)向堅持走自主創(chuàng)新之路,以質(zhì)量和科技技術(shù)行業(yè)發(fā)展為目的。公司以“專注檢測理論研究,以客戶需求”為價值中心,矢志不渝的為用戶提供Z可信賴的服務(wù)。

Paratronix普創(chuàng)擁有專業(yè)的技研、銷售團隊,同時建立了*的售后服務(wù)體系。以過硬的產(chǎn)品和用心的服務(wù)贏得國內(nèi)外廣大用戶的贊譽。

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產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
真空衰減密封完整性測試儀 無損密封試驗儀專 業(yè)適用于各種空的/預(yù)充式注射器、水針及粉針瓶(玻璃/塑料)、灌裝壓蓋瓶、奶粉罐體、其他硬質(zhì)包裝容器、電器元件等 試樣的無損正、負壓的微泄漏試。本產(chǎn)品采用先進的設(shè)計和嚴(yán)謹(jǐn)、科學(xué)的計算方法保證了其快速測試和高準(zhǔn)確度及高穩(wěn)定性。
真空衰減密封完整性測試儀 無損密封試驗儀 產(chǎn)品信息

   

真空衰減密封完整性測試儀 無損密封試驗儀

    

   MLT系列依據(jù)《ASTM F2338-2013 包裝泄漏的標(biāo)準(zhǔn)檢測方法-真空衰減法》 標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)。專 業(yè)適用于各種空的/預(yù)充式注射器、水針及粉針瓶(玻璃/塑料)、灌裝壓蓋瓶、奶粉罐體、其他硬質(zhì)包裝容器、電器元件等 試樣的無損正、負壓的微泄漏測試。本產(chǎn)品采用先進的設(shè)計和嚴(yán)謹(jǐn)、科學(xué)的計算方法保證了其快速測試和高準(zhǔn)確度及高穩(wěn) 定性。亦可滿足用戶的非標(biāo)準(zhǔn)(軟件或測試夾具)定制。

真空衰減密封完整性測試儀 無損密封試驗儀

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

《ASTM F2338-13 包裝泄漏的標(biāo)準(zhǔn)檢測方法-真空衰減法》

《USP1207美國藥典標(biāo)準(zhǔn) 》

《藥品GMP指南——無菌藥品》11.1密封完整性測試

《中國藥典》2020年版四部 微生物檢查法

《化學(xué)藥品注射劑包裝系統(tǒng)密封性研究技術(shù)指南(試行)》

真空衰減密封完整性測試儀 無損密封試驗儀

技術(shù)參數(shù):

測試方法:真空衰減法/壓力衰減法

測控技術(shù):微電腦,雙傳感器測試技術(shù)

真空方式:真空泵

正壓方式:外接氣源

測試單位:kPa/mbar/psi/Pa

分辨率:0.1Pa

測試范圍:-99~400kPa

測量范圍:≥0.01ccm(約1μm)

測試精度:±0.2μm(≥3μm)

測試精度:±0.3μm(<3μm)

測試時間:15~40sec

主控芯片:STM微電腦芯片

采集頻率:50~200Hz

操控方式:電腦軟件

操控系統(tǒng):Windows系統(tǒng)

審計追蹤:支持

數(shù)據(jù)存儲:無上限

數(shù)據(jù)傳輸:USB/RS232/485

鍵盤鼠標(biāo):支持

報告方式:A4報告

電源:220V 50Hz

氣源壓力:≥0.5MPa

氣源接口: φ6mm聚氨酯管

外觀材質(zhì) :工程塑料/不銹鋼

外形尺寸 : 340(L)×470(W)×320(H)

設(shè)備重量 :約20kg

夾具配置 :手動/自動夾具

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