| 參考價 | 面議 |
產(chǎn)品簡介
高低溫試驗箱箱體結(jié)構(gòu)特點：
試驗箱箱體采用數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀
質(zhì)感和潔凈度。
大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。
控制器：溫度控制采用全進(jìn)口7寸觸摸屏+PLC控制儀表，操作設(shè)定簡單。(美國SWS550)
資料及試驗條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。
具有P.I.D自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定。
冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)：制冷機采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機。
冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。
采用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計，風(fēng)壓風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。
升溫、降溫、系統(tǒng)*獨立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。
規(guī)格與技術(shù)參數(shù) ：
型號(CM) | VT/GDJ-100 | VT/GDJ-225 | VT/GDJ-500 | VT/GDJ-800 | VT/GDJ-010 | |
工作室尺寸 | 45*45*50 | 60*50*75 | 70*80*90 | 80*100*100 | 100*100*100 | |
外型尺寸 | 95*99*162 | 110*100*187 | 120*130*203 | 130*150*213 | 150*150*213 | |
功率(-40℃時) | 4.5(KW) | 5.5 (KW) | 8.0(KW) | 9.0(KW) | 11.0(KW) | |
性能 | 溫度范圍 | A:-20℃～150℃ B:-40℃～150℃ C:-60℃～150℃ D:-70℃～150℃ | ||||
波動/均勻度 | ≤±0.5℃/≤±2℃ | |||||
升溫速率 | 1.0～3.0℃/min | |||||
降溫速率 | 0.7～2.0℃/min | |||||
控制 | 控制器 | 進(jìn)口7寸觸摸屏+PLC微電腦集成控制器 | ||||
精度范圍 | 設(shè)定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃ | |||||
溫濕度傳感器 | PT100高精度溫度傳感器 | |||||
加熱系統(tǒng) | 全獨立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器 | |||||
制冷系統(tǒng) | 全封閉風(fēng)冷單級壓縮制冷方式/原裝法國“泰康”/全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式 | |||||
循環(huán)系統(tǒng) | 耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風(fēng)輪 | |||||
使用 | 外箱材質(zhì) | 優(yōu)質(zhì)碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理 | ||||
內(nèi)箱材質(zhì) | SUS304不銹鋼優(yōu)質(zhì)鏡面光板 | |||||
保溫材質(zhì) | 聚胺脂硬質(zhì)發(fā)泡、超細(xì)玻璃纖維綿 | |||||
門框隔熱 | 雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條 | |||||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 多層加熱觸霜附照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔（25、50、100mm）1個 | |||||
安全保護 | 漏電、短路、超溫、電機過熱、壓縮機超壓、過載、過電流保護 | |||||
定時功能 | 0.1～999.9（S、M、H）可調(diào) | |||||
電源電壓 | AC380V±10％ 50±0.5Hz 三相五線制 | |||||
使用環(huán)境溫度 | 5℃～＋30℃ ≤85％R.H | |||||
注：1、“VT/GDJ”為高低溫試驗箱型號，外形尺寸僅供參考以實物為主 | ||||||
高低溫試驗箱--符合標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1：2011 環(huán)境試驗 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗GJB 150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第３部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GB/T2951.12-2008/IEC 60811-1-2：1985；GB/T2951.14-2008/IEC 60811-1-4：1985；
SC/T7002.2-2016，SC/T7002.3-2016
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