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成立于1819年，JobinYvon公司的總部設在高科技發(fā)達的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中，JobinYvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質，為客戶提供優(yōu)質產(chǎn)品
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OEM定制化光譜儀產(chǎn)品參數(shù)
| 產(chǎn)地 | 進口 | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
HORIBA OEM定制化光譜儀VS7000+是一款集定制化、高性能、小型化于一身，面向光譜分析儀器制造商的OEM光譜儀產(chǎn)品。搭配不同的光柵、濾光片和探測器，可以滿足不同應用的性能需求，實現(xiàn)儀器產(chǎn)品性能的優(yōu)化和差異化。
OEM定制化光譜儀詳細信息
HORIBA OEM定制化光譜儀VS7000+產(chǎn)品簡介：
VS7000+是一款集定制化、高性能、小型化于一身，面向光譜分析儀器制造商的OEM光譜儀產(chǎn)品。搭配不同的光柵、濾光片和探測器，可以滿足不同應用的性能需求，實現(xiàn)儀器產(chǎn)品性能的優(yōu)化和差異化。
VS7000+標配HORIBA Jobin Yvon的4型消像差平像場光柵、高量子效率背照射CCD。峰值量子效率高于75%、動態(tài)范圍高達7000：1、光譜范圍覆蓋紫外、可見、近紅外，能滿足大多數(shù)光學光譜儀器的使用要求，特別適合用低感光下的精密光譜分析應用。另有多種定制化方案可滿足更多應用需求。
HORIBA Jobin Yvon 真正OEM定制化解決方案，兼顧性能優(yōu)化和差異化，適合儀器開發(fā)和量產(chǎn)。
HORIBA OEM定制化光譜儀VS7000+應用領域
• 生化醫(yī)療
• 熒光光譜
• 液相色譜
• 透射反射光譜
• LED光源檢測
• 水質氣體分析
• 便攜式拉曼開發(fā)
• 食品近紅外光譜分析
技術特點
• 高光通量（f/2.8）
• 超低雜散光
• 主流光譜范圍：紫外-可見（200nm~860nm）、可見（380nm~750nm）、紫外-可見（200nm~1050nm）
• 高靈敏度，適合熒光、發(fā)射、吸收和反射等光譜應用
• 采用高性能背照射CCD探測器，優(yōu)于市場上正照射和低成本背照射CCD
| 特征 | 描述 |
| 覆蓋常用的紫外-可見光譜范圍 | 擁有對稱峰型的小型光柵光譜儀 |
| 讀出速度快 | 快達4.5ms |
| 先進的電路技術 | 低噪音、高線性度（原始數(shù)據(jù)）和線性校正（板載） |
| 背照射線性CCD | QE=63%（250nm處）；70%（650nm處）；55%（850nm處） |
| 高性噪比 | 在非制冷CCD光譜儀中擁有高的性噪比 |
| USB2.0接口 | 與電腦連接的標準USB接口，保證了數(shù)據(jù)完整性 |
| 高階濾光片 | 消除二級衍射 |
| 數(shù)據(jù)采集軟件/LabViewTMCVls/DLLs可 用 | 可方便地將VS-7000+集成到您的系統(tǒng)中 |
| 單片光柵光路設計 | 采用單片消像差4型凹面平像場光柵，擁有的分光純度 |
| 無運動部件或快門 | 使OEM集成具備了佳的可靠性 |
HORIBA Jobin Yvon4型消像差平像場光柵，匹配陣列探測器。
單片光柵光路設計，實現(xiàn)高光通量、低雜散光、高穩(wěn)定性。
采用高性能背照射CCD或CMOS探測器，高量子效率、高采集速率。
S10420理論量子效率曲線
參數(shù)規(guī)格
對光譜分析應用，VS-7000+采用改進型的VS70光學設計對UV-VIS進行優(yōu)化
| 光譜范圍 | 紫外-可見（200nm~860nm）：采用250nm處優(yōu)化的光柵，內置高階濾光片 可見（380nm~750nm）：采用可見光譜閃耀的光柵，內置長通濾光片 紫外-可見-近紅外（200nm~1050nm）：采用紫外可見雙閃耀光柵，內置高階濾光片 |
| 數(shù)值孔徑 | f/2.8 |
| 雜散光抑制 典型（大） | 0.04%（0.08%），配置300μm高紫外-可見型CCD （采用510nm寬帶濾光片，75μm寬狹縫進行測量） ＞2.4 AU線性范圍（5%誤差），采用氘燈和10mm比色皿，測量在273nm處的吸收 |
| CCD探測器典型量子效率 | 高性能背照射CCD，紫外波段的量子效率高達65%，近紅外消etaloning效應 |
| 探測器高度和光纖參數(shù) | CCD感光面高300μm（另有1mm可選） 適配600μm芯徑，1.5m長的光纖（對1mm高CCD推薦800μm~1000μm芯徑光纖） |
| 熱電穩(wěn)定性 | 暗電流和CCD模式噪聲需扣除，操作者需關閉光源或在光路上安裝快門 探測器量子效率會隨溫度變化有微小變化 |
| 光譜分辨率 像素分辨率 狹縫（出廠配置） | 紫外-可見：在75μm狹縫、2048像元下，分辨率為2.7nm； 0.33nm/像元（配置300μm高CCD） 可選狹縫寬度：12、25、37、50、62、75、100、125、150、200μm（如需其他狹縫規(guī)格，請與我們聯(lián)系） |
| 改進的CCD滿阱容量 原始非線性度 工廠校正的非線性度 | ＞250ke-（靈敏模式） ＞450ke-（高滿阱模式） ＜1%（靈敏模式） ＜3%（高滿阱模式） ＜0.4%（靈敏模式） ＜0.8%（高滿阱模式） |
| 讀出速度 | 8.6ms（500kHz 模式），116spectra/s（多道采集模式，零曝光時間） 快：4.5ms（超快模式），223spectra/s（多道采集模式，零曝光時間） |
| 典型暗電流 | 2.8counts/ms （20℃），典型偏移 = 1000 counts |
| 典型讀出噪聲 | 在靈敏模式下35e-（大45e-） 在高滿阱模式下75e-（大90e-） |
| A/D轉換 | 16bit，500kHz |
| 典型動態(tài)范圍 | 7000:1（靈敏模式），6000:1（高滿阱模式） |
| 典型信噪比 | 500:1（靈敏模式）至700:1（高滿阱模式），在散粒噪聲受限的條件下 |
| 增益選擇 | 4e-/count 和8e-/count |
注：參數(shù)，外形和光譜范圍如有更改，恕不另行通知。
采集軟件
包括（LabVIEWTM 2011版）
• 為用戶編程提供VIs和上層代碼
• 可訪問CCD原始線性數(shù)據(jù)和校正線性數(shù)據(jù)，出廠前對每個CCD芯片做校正
• CCD設置和暗噪聲扣除
• 板載（on-board）或者軟件平均
• 吸收和透射計算
• 像素、波長和波數(shù)三種標度選擇
• 板載（on-board）光譜校準
• 線性校正開關
• Boxcar平均
• 數(shù)據(jù)保存支持Excel或Txt格式
注：運行自帶軟件無需LabView許可證，編輯代碼需要2011版LabView許可證，HORIBA Jobin Yvon不提供代碼編寫的技術支持。
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