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成立于1819年，JobinYvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國(guó)首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中，JobinYvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來(lái)的一貫宗旨——高品質(zhì)，為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品
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納米粒度zeta電位儀產(chǎn)品參數(shù)
| 測(cè)量時(shí)間 | 2min | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
| 產(chǎn)品新舊 | 全新 | 測(cè)量范圍 | 0.3nm?～?10μm |
| 分散方式 | 濕法分散 | 儀器原理 | 動(dòng)態(tài)光散射 |
| 重現(xiàn)性 | +-2% |
HORIBA SZ-100 V2 納米粒度zeta電位儀是準(zhǔn)確測(cè)量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測(cè)，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測(cè)定；還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。
納米粒度zeta電位儀詳細(xì)信息
HORIBA SZ-100 V2 納米粒度zeta電位儀是準(zhǔn)確測(cè)量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測(cè)，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測(cè)定；還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。
SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。
· 同臺(tái)儀器可測(cè)三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)
· 寬檢測(cè)范圍，寬濃度范圍——樣品濃度可達(dá)40%
· 自動(dòng)滴定儀——可用于zeta電位測(cè)量過(guò)程中pH值的自動(dòng)滴定
· 軟件操作簡(jiǎn)單功能*，一鍵測(cè)量
· 雙光路雙角度粒徑測(cè)量（90° 和173°）
· 采用微量樣品池
粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）
粒徑測(cè)定范圍：0.3nm ～10μm
粒徑測(cè)量精度：±2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm）
Zeta 電位測(cè)量原理：激光多普勒電泳法
Zeta 電位測(cè)量范圍：-500 mV ～ +500 mV
分子量測(cè)量原理：Debye plot
分子量測(cè)量范圍：1000 ～ 2×107 Da
測(cè)量角度：90° 和173°（可自動(dòng)或手動(dòng)選擇）
樣品量：12μL ～ 1000μL
關(guān)鍵詞：滴定儀
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