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納米粒度zeta電位儀

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參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng)HORIBA（中國(guó)）
品牌HORIBA
型號(hào)SZ-100 V2
所在地上海市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2025/10/20 21:38:10
訪問(wèn)次數(shù)1449

產(chǎn)品標(biāo)簽:

激光顆粒分析儀納米粒度zeta電位儀納米粒度分析儀激光顆粒分析儀

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

HORIBA 憑借自身高度自動(dòng)化與深度定制化的解決方案，為藥物開(kāi)發(fā)領(lǐng)域賦能發(fā)展。在光學(xué)光譜及工程設(shè)計(jì)領(lǐng)域，我們深耕數(shù)十年，擁有豐富的經(jīng)驗(yàn)、卓越的能力，面對(duì)快速自動(dòng)化測(cè)量與復(fù)雜數(shù)據(jù)分析的種種挑戰(zhàn)，我們能夠準(zhǔn)確研判、精準(zhǔn)應(yīng)對(duì)，為制藥企業(yè)量身定制符合其獨(dú)特需求的解決方案。

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

科學(xué)儀器：拉曼光譜分析，拉曼光譜設(shè)備，熒光光譜儀，粒度分布儀，粒度分析儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢(xún)價(jià)

測(cè)量時(shí)間	2min	產(chǎn)地	進(jìn)口
產(chǎn)品新舊	全新	測(cè)量范圍	0.3nm?～?10μm
分散方式	濕法分散	儀器原理	動(dòng)態(tài)光散射
重現(xiàn)性	+-2%

HORIBA SZ-100 V2 納米粒度zeta電位儀是準(zhǔn)確測(cè)量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測(cè)，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測(cè)定；還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。

納米粒度zeta電位儀產(chǎn)品信息

SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。

HORIBA SZ-100 V2 納米粒度zeta電位儀產(chǎn)品特點(diǎn)

· 同臺(tái)儀器可測(cè)三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)

· 寬檢測(cè)范圍，寬濃度范圍——樣品濃度可達(dá)40%

· 自動(dòng)滴定儀——可用于zeta電位測(cè)量過(guò)程中pH值的自動(dòng)滴定

· 軟件操作簡(jiǎn)單功能*，一鍵測(cè)量

· 雙光路雙角度粒徑測(cè)量（90° 和173°）

· 采用微量樣品池

技術(shù)參數(shù)

粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）

粒徑測(cè)定范圍：0.3nm ～10μm