三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適合于led產(chǎn)品用，還常用于國防工業(yè)、航天工業(yè)自動(dòng)化零組件、電器零組件、汽車部件、電子、塑料、化工業(yè)、光電、照明及相關(guān)產(chǎn)品在高低溫度低氣壓單項(xiàng)或同時(shí)作用下，模擬高海拔、高空、（高原地區(qū)）氣候進(jìn)行貯存運(yùn)用、運(yùn)輸可靠性試驗(yàn)，并可同時(shí)對試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的沖擊測試。

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱性能參數(shù)參考如下：

一、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費(fèi)配高溫至150度）

二、溫度偏差：±2℃

三、溫度波動(dòng)度：±0.5℃。

四、溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min。

五、溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。   

七、高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間：30min (+25℃～+200℃)。

八、低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間：65min (+25℃～-75℃)。

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；

2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；

4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；

5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；

6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。