可程式恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)設(shè)備又叫溫濕度循環(huán)試驗(yàn)機(jī)，本設(shè)備是用來確定電子產(chǎn)品、電器產(chǎn)品、光電產(chǎn)品、安防產(chǎn)品或其它工業(yè)產(chǎn)品在溫濕度循環(huán)氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性試驗(yàn)。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于溫度的濕度和曝露持續(xù)時(shí)間或循環(huán)。

技術(shù)指標(biāo)：

1.  試驗(yàn)設(shè)備型號(hào)名稱：LQ-TH系列（濕熱交變系列）。

2.  小內(nèi)箱尺寸：400X500X400mm (寬X高X深)，更多標(biāo)準(zhǔn)尺寸或者非標(biāo)請(qǐng)聯(lián)系顧客咨詢。

3.   溫度范圍：－40℃～＋150℃，（有-70~150℃的溫度范圍內(nèi)可選擇）。

4.  常規(guī)濕度范圍：20～98% R.H。

5.  溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃。

6.  溫度均勻度：≤±2℃。

7.  升溫速率：30℃～150℃≤40 min。

8.  降溫速率：30℃～- 40℃≤60 min。

9.  濕度偏差：≤±3% R.H(濕度≤75% R.H時(shí)，濕度偏差±5% R.H)。

10.  控制方式：定值運(yùn)行。

11.  電源  功率：AC 220V/50Hz ±10%，4.0Kw。

12.  安裝環(huán)境：設(shè)備周圍無強(qiáng)烈振動(dòng)、無強(qiáng)電磁場干擾、無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)、無易燃易爆物品、無陽光直接照射或其它熱源直接輻射，設(shè)備應(yīng)水平放置于通風(fēng)良好的試驗(yàn)室內(nèi)，周圍應(yīng)留有充足的空間供操作及維護(hù)之用。

13.  考核環(huán)境：在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下滿足室溫≤25℃，相對(duì)濕度≤85%R.H，工作室空載，恒定兩小時(shí)。

可程式恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)設(shè)備可滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；GB2423.1-2008(IEC68-2-1)試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；GB2423.22-2008(IEC68-2-14)試驗(yàn)NB：溫度循環(huán)試驗(yàn)方法 。GB2423.3-2006(IEC68-2-3)試驗(yàn)CA：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB2423.4-2008(IEC68-2-30)試驗(yàn)CB：交變濕熱試驗(yàn)方法；GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法 。GJB150.4A-2009(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法 ；GJB150.9A-2009(MIL-STD-810D)濕熱試驗(yàn)方法。