半導體高低溫沖擊測試箱目前適用的行業(yè)及產品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC，電感器，電子元器件，數(shù)碼產品，太陽能組件，光伏組件，光纖，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機，汽車燈產品及零部件等大型產品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設定恒溫或者沖擊試驗。

一、產品名稱三箱式冷熱沖擊試驗機（風冷式）

二、產品型號2AP-CJ

三、控制儀表愛佩自主研發(fā)的7英寸超大觸摸AP-950可程序溫度控制器全觸摸屏控制器，觸摸屏輸入，根據客戶要求可任意設定不同高低溫沖擊溫度點，滿足做測試的不同需求.

四、試樣限制本試驗設備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質試樣的試驗或儲存腐蝕性物質試樣的試驗或

儲存生物試樣的試驗或儲存強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。

五、三箱特點1、三箱設備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品*靜止于測試區(qū)。采用*之蓄熱、蓄冷結構，強制冷熱風路切換方式導入測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測試。

2、可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇2箱或3箱之功能并具有高低溫試驗機的功能,相比于2箱沖擊它還可選擇做常溫沖擊。

六、容積、尺寸和重量

6.1.內容積50L

6.2.內箱尺寸400 *350 *350mm   　 (W* H *D)

6.3.外型尺寸(約)1350*1900*1650mm     (W* H *D)

6.4.重  量約900㎏

七、半導體高低溫沖擊測試箱性能指標

7.1.測試環(huán)境條件機器周圍環(huán)境溫度維持在+25~+30℃之間，相對濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。

7.2.滿足標準 .GB/T2423.1-2008 低溫試驗方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008  高溫試驗方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗Test of temperature chantge

·GJB150.5-86溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·GJB360.7-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·GJB367.2-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.測試室溫度范圍：-40℃～+150 ℃ (風冷式)

7.4.高溫室

7.4.1.預熱溫度范圍RT～+165℃

7.4.2.升溫時間

+50℃→+165℃ ≤30min

注：升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能

7.5.低溫室

7.5.1.預冷溫度范圍RT～-55℃

7.5.2.降溫時間+20℃ → -55℃≤約60min

注：降溫時間為低溫室單獨運轉時的性能

7.6.試驗室（試樣區(qū)）

7.6.1.試驗方式采用*之蓄熱、蓄冷結構，強制冷熱風路切換方式導入測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測試。

7.6.2.溫度波動度±0.5℃

7.6.3.溫度偏差±2.0℃

7.6.5.溫度恢復時間≤5min；轉換溫度只需要≤10s（風門開啟時間：3秒以內）