半導(dǎo)體高低溫沖擊測試箱目前適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC，電感器，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，太陽能組件，光伏組件，光纖，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機(jī)，汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設(shè)定恒溫或者沖擊試驗(yàn)。

一、產(chǎn)品名稱三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)（風(fēng)冷式）

二、產(chǎn)品型號(hào)2AP-CJ

三、控制儀表愛佩自主研發(fā)的7英寸超大觸摸AP-950可程序溫度控制器全觸摸屏控制器，觸摸屏輸入，根據(jù)客戶要求可任意設(shè)定不同高低溫沖擊溫度點(diǎn)，滿足做測試的不同需求.

四、試樣限制本試驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或

儲(chǔ)存生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。

五、三箱特點(diǎn)1、三箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品*靜止于測試區(qū)。采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進(jìn)行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測試。

2、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇2箱或3箱之功能并具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能,相比于2箱沖擊它還可選擇做常溫沖擊。

六、容積、尺寸和重量

6.1.內(nèi)容積50L

6.2.內(nèi)箱尺寸400 *350 *350mm   　 (W* H *D)

6.3.外型尺寸(約)1350*1900*1650mm     (W* H *D)

6.4.重  量約900㎏

七、半導(dǎo)體高低溫沖擊測試箱性能指標(biāo)

7.1.測試環(huán)境條件機(jī)器周圍環(huán)境溫度維持在+25~+30℃之間，相對(duì)濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。

7.2.滿足標(biāo)準(zhǔn) .GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008  高溫試驗(yàn)方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗(yàn)Test of temperature chantge

·GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock

·GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock

·GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.測試室溫度范圍：-40℃～+150 ℃ (風(fēng)冷式)

7.4.高溫室

7.4.1.預(yù)熱溫度范圍RT～+165℃

7.4.2.升溫時(shí)間

+50℃→+165℃ ≤30min

注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

7.5.低溫室

7.5.1.預(yù)冷溫度范圍RT～-55℃

7.5.2.降溫時(shí)間+20℃ → -55℃≤約60min

注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

7.6.試驗(yàn)室（試樣區(qū)）

7.6.1.試驗(yàn)方式采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進(jìn)行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測試。

7.6.2.溫度波動(dòng)度±0.5℃

7.6.3.溫度偏差±2.0℃

7.6.5.溫度恢復(fù)時(shí)間≤5min；轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（風(fēng)門開啟時(shí)間：3秒以內(nèi)）