晶粒測量專家LeicaGrainExpert自動的,客觀和可重復的晶粒尺寸分析晶粒度分析是用來評估材料特性用于幫助確定最終產(chǎn)品的特性

 

晶粒測量專家Leica Grain Expert

自動的, 客觀和可重復的晶粒尺寸分析

晶粒度分析是用來評估材料特性用于幫助確定最終產(chǎn)品的特性.
Leica 晶粒專家提供用戶一個晶粒度分析技術(shù)的簡明選擇. 用戶可以自信地對該分析過程判斷他們的特別的實驗要求通過應用有關(guān)的工業(yè)標準.
Leica 應用套裝提供它整合和的自動化顯微鏡, 計算機和數(shù)碼圖像分析. 晶粒邊界辨認快速地用經(jīng)典圖像處理技術(shù)和在秒間顯示結(jié)果.

為您帶來的優(yōu)勢

統(tǒng)一的可靠性

Leica 晶粒專家符合廣泛的晶粒度標準包括 ASTM, JIS和 ISO, 給用戶加強結(jié)果的可靠性。

一步步引導操作

應用精靈快速地導引操作員通過必需的圖像處理和分析過程, 用最小的努力產(chǎn)生一致, 可重復的結(jié)果。

自動的邊界辨認

幾乎實時的晶粒邊界辨認容許操作員快速地確認結(jié)果。

靈活的報表

報告模板可以自定義為符合實驗室的要求通過使用Microsoft® Excel™ *地匹配實驗室的需要。