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NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2021/8/4 11:24:17
  • 訪問次數(shù)330
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廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司成立于2005年,位于國(guó)家*產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)廣州科學(xué)城。在光譜快速檢測(cè)領(lǐng)域深耕10年,熟悉各種光譜快速檢測(cè)方案的搭建,為化工、光電、材料、農(nóng)學(xué)、生物等不同領(lǐng)域的客戶提供了上百種檢測(cè)方案,2014年被認(rèn)定為*。公司擁有*的研發(fā)、銷售團(tuán)隊(duì),擁有*的創(chuàng)新能力,2015年榮獲廣州開發(fā)區(qū)“瞪羚企業(yè)”稱號(hào),2016年成功認(rèn)定為廣州市研發(fā)機(jī)構(gòu),2016年順利通過ISO 9001:2015質(zhì)量管理體系認(rèn)證。
標(biāo)旗在“科技創(chuàng)新,真誠(chéng)服務(wù)”的企業(yè)核心價(jià)值觀的下,不斷創(chuàng)新和發(fā)展,形成集算法開發(fā)、軟件開發(fā)、硬件開發(fā)、光路設(shè)計(jì)及電路設(shè)計(jì)為一體的研發(fā)體系,標(biāo)旗團(tuán)隊(duì)基于光纖光譜儀的應(yīng)用,開發(fā)了不同應(yīng)用領(lǐng)域的光譜快速檢測(cè)儀器,不斷沉淀與打造自主品牌——科思凱(Qspec)。目前,標(biāo)旗已擁有一系列具有核心競(jìng)爭(zhēng)力的科思凱產(chǎn)品,包括:平面光學(xué)元件光譜分析儀、球面光學(xué)元件顯微檢測(cè)儀、透過率檢測(cè)儀、珠寶檢測(cè)儀、近紅外光譜檢測(cè)儀、全光譜層析掃描儀、非接觸光學(xué)測(cè)厚儀、微量紫外分光光度計(jì)、物質(zhì)分析儀和高功率鹵素冷光源等。標(biāo)旗科思凱系列產(chǎn)品儀器優(yōu)勢(shì)顯著,具有高效、迅速、準(zhǔn)確的特點(diǎn),將“中國(guó)創(chuàng)造”的研發(fā)理念與攻關(guān)思路融入到每項(xiàng)產(chǎn)品的開發(fā)中,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品應(yīng)用與科技進(jìn)步、市場(chǎng)需求緊密結(jié)合,不斷突破傳統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)升級(jí)改造,實(shí)現(xiàn)理論研究與生產(chǎn)應(yīng)用的轉(zhuǎn)化,真正將創(chuàng)造力作為公司不斷向前發(fā)展的核心動(dòng)力,將中國(guó)創(chuàng)造內(nèi)化于企業(yè)發(fā)展中。

同時(shí),標(biāo)旗也是許多科技裝備企業(yè)在國(guó)內(nèi)的*的代理商和經(jīng)銷商,包括:Ocean Optics光纖光譜儀(華南區(qū)總代理),PerkinElmer分析儀器、P&P成像光譜儀。

標(biāo)旗秉承專業(yè)、真誠(chéng)、貼心的服務(wù)宗旨,針對(duì)客戶的需求,量身定制光譜檢測(cè)應(yīng)用方案,幫助客戶解決科研和生產(chǎn)中的實(shí)際問題,全程提供售前、售中和售后服務(wù)。標(biāo)旗的成長(zhǎng)離不開客戶的支持,目前,公司積累了豐富的技術(shù)和客戶資源,積極與高校合作,致力于產(chǎn)學(xué)研的成長(zhǎng)模式;而且努力為同行業(yè)者搭建線上和線下交流平臺(tái),向客戶學(xué)習(xí),更好的服務(wù)于客戶。

科技的發(fā)展日新月異,標(biāo)旗緊跟科技進(jìn)步與時(shí)代發(fā)展的步伐,在光譜快速檢測(cè)道路上不斷前行,臻于至善。

光纖光譜儀,拉曼光譜儀,近紅外光譜儀,反射率測(cè)試儀
NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)
NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

NanoCalc 薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)

薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)可以用來進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測(cè)量,對(duì)單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測(cè)量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。

特點(diǎn)

  • 可分析單層或多層薄膜

  • 分辨率達(dá)0.1nm

  • 適合于在線監(jiān)測(cè)

操作理論

的兩種測(cè)量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測(cè)量、橢圓光度法測(cè)量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測(cè)量。

查找n和k值

可以進(jìn)行多達(dá)三層的薄膜測(cè)量,薄膜和基體測(cè)量可以是金屬、電介質(zhì)、無定形材料或硅晶等。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫,用戶也可以自己添加和編輯。

應(yīng)用

NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測(cè)量,包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類型的薄膜。NanoCalc也可測(cè)量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等。

NanoCalc系統(tǒng)

NC-UV-VIS-NIR

重量:

250-1100nm

厚度:

10nm-70µm

光源:

氘鹵燈

NC-UV-VIS

重量:

250-850nm

厚度:

10nm-20µm

光源:

氘鹵燈

NC-VIS-NIR

重量:

400-1100nm

厚度:

20nm-100µm (可選1µm-250µm)

光源:

鹵燈

 

NC-VIS

重量:

400-850nm

厚度:

50nm-20µm

光源:

鹵燈

NC-NIR

重量:

650-1100nm

厚度:

70nm-70µm

光源:

鹵燈

NC-NIR-HR

重量:

650-1100nm

厚度:

70nm-70µm

光源:

鹵燈

NC-512-NIR

重量:

900-1700 nm

厚度:

50nm-200µm

光源:

高亮度鹵燈

NanoCalc規(guī)格

入射角

90°

層數(shù)

3層以下

需要進(jìn)行參考值測(cè)量

透明材料

傳輸模式

粗糙材料

測(cè)量速度

100ms - 1s

在線監(jiān)測(cè)

可以

公差(高度)

參考值測(cè)量或準(zhǔn)直(74-UV)

公差(角度)

參考值測(cè)量

微黑子選項(xiàng)

配顯微鏡

顯示選項(xiàng)

配顯微鏡

定位選項(xiàng)

6"和12" XYZ 定位臺(tái)

真空

可以

關(guān)鍵詞:顯微鏡
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