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等離子體監(jiān)測控制儀PlasCalc

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2021/8/4 10:00:22
  • 訪問次數(shù)220
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廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司成立于2005年,位于國家*產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)廣州科學(xué)城。在光譜快速檢測領(lǐng)域深耕10年,熟悉各種光譜快速檢測方案的搭建,為化工、光電、材料、農(nóng)學(xué)、生物等不同領(lǐng)域的客戶提供了上百種檢測方案,2014年被認(rèn)定為*。公司擁有*的研發(fā)、銷售團(tuán)隊(duì),擁有*的創(chuàng)新能力,2015年榮獲廣州開發(fā)區(qū)“瞪羚企業(yè)”稱號,2016年成功認(rèn)定為廣州市研發(fā)機(jī)構(gòu),2016年順利通過ISO 9001:2015質(zhì)量管理體系認(rèn)證。
標(biāo)旗在“科技創(chuàng)新,真誠服務(wù)”的企業(yè)核心價(jià)值觀的下,不斷創(chuàng)新和發(fā)展,形成集算法開發(fā)、軟件開發(fā)、硬件開發(fā)、光路設(shè)計(jì)及電路設(shè)計(jì)為一體的研發(fā)體系,標(biāo)旗團(tuán)隊(duì)基于光纖光譜儀的應(yīng)用,開發(fā)了不同應(yīng)用領(lǐng)域的光譜快速檢測儀器,不斷沉淀與打造自主品牌——科思凱(Qspec)。目前,標(biāo)旗已擁有一系列具有核心競爭力的科思凱產(chǎn)品,包括:平面光學(xué)元件光譜分析儀、球面光學(xué)元件顯微檢測儀、透過率檢測儀、珠寶檢測儀、近紅外光譜檢測儀、全光譜層析掃描儀、非接觸光學(xué)測厚儀、微量紫外分光光度計(jì)、物質(zhì)分析儀和高功率鹵素冷光源等。標(biāo)旗科思凱系列產(chǎn)品儀器優(yōu)勢顯著,具有高效、迅速、準(zhǔn)確的特點(diǎn),將“中國創(chuàng)造”的研發(fā)理念與攻關(guān)思路融入到每項(xiàng)產(chǎn)品的開發(fā)中,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品應(yīng)用與科技進(jìn)步、市場需求緊密結(jié)合,不斷突破傳統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)升級改造,實(shí)現(xiàn)理論研究與生產(chǎn)應(yīng)用的轉(zhuǎn)化,真正將創(chuàng)造力作為公司不斷向前發(fā)展的核心動(dòng)力,將中國創(chuàng)造內(nèi)化于企業(yè)發(fā)展中。

同時(shí),標(biāo)旗也是許多科技裝備企業(yè)在國內(nèi)的*的代理商和經(jīng)銷商,包括:Ocean Optics光纖光譜儀(華南區(qū)總代理),PerkinElmer分析儀器、P&P成像光譜儀。

標(biāo)旗秉承專業(yè)、真誠、貼心的服務(wù)宗旨,針對客戶的需求,量身定制光譜檢測應(yīng)用方案,幫助客戶解決科研和生產(chǎn)中的實(shí)際問題,全程提供售前、售中和售后服務(wù)。標(biāo)旗的成長離不開客戶的支持,目前,公司積累了豐富的技術(shù)和客戶資源,積極與高校合作,致力于產(chǎn)學(xué)研的成長模式;而且努力為同行業(yè)者搭建線上和線下交流平臺(tái),向客戶學(xué)習(xí),更好的服務(wù)于客戶。

科技的發(fā)展日新月異,標(biāo)旗緊跟科技進(jìn)步與時(shí)代發(fā)展的步伐,在光譜快速檢測道路上不斷前行,臻于至善。

光纖光譜儀,拉曼光譜儀,近紅外光譜儀,反射率測試儀
等離子體監(jiān)測控制儀PlasCalc
等離子體監(jiān)測控制儀PlasCalc 產(chǎn)品信息

PlasCalc等離子體監(jiān)測控制儀,實(shí)現(xiàn)200nm-1100nm波段內(nèi)的等離子體測量,通過高級過程控制系統(tǒng)及精密數(shù)據(jù)存取算法,只需3m就可以獲得測量結(jié)果。

 

特點(diǎn)

  • 光學(xué)分辨率1.0nm(FWHM)
  • 光譜范圍 200-1100nm
  • 快速的建模及存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)方法

Recipe編輯器

Recipe編輯器有助于簡單快捷的配置、構(gòu)建及存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)方法。對一些困難的等離子體工序諸如膜沉積測量、等離子體蝕刻監(jiān)測、表面潔度監(jiān)測、等離子體室控制及異常污染、排放監(jiān)測等,能夠快速簡單的構(gòu)建模塊過程控制。

 

多種工具用于等離子體診斷

PlasCalc配置的操作軟件,集成的程式編輯器能夠容易實(shí)現(xiàn)多種數(shù)學(xué)算法功能??蛇x的波長發(fā)生器(可以單獨(dú)購買)用于類型確認(rèn),而波長編輯器可以用于優(yōu)化信噪比。雙窗口界面用于顯示實(shí)際光譜及所有過程控制信息。

 

PlasCalc 配置說明

光譜范圍:

200-1100 nm

光學(xué)分辨率:

1.0 nm (FWHM)

D/A 轉(zhuǎn)換:

14 bit

數(shù)字I/O:

8 x TTL

模擬輸出:

4 x [0-10V]

接口:

USB 1.1

功耗:

12 VDC @ 1.25 A

電源:

90-240 VAC 50/60 Hz

尺寸:

257 mm x 152 mm x 263 mm

重量:

5 kg

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