布魯克 Dimension Icon掃描探針顯微系統(tǒng)的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn)，在聚合物、半導體、能源、數(shù)據(jù)存儲及材料領域的納米研究中將會得到廣泛應用。Dimension Icon是Dimension系列產(chǎn)品中的款設備,它基于世界上應用較廣泛的AFM平臺，集合了數(shù)十年的技術創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)*的應用定制及客戶反饋等于一身。這個系統(tǒng)經(jīng)過從上到下的設計，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
布魯克 Dimension Icon掃描探針顯微系統(tǒng)優(yōu)秀的圖像分辨率，與Bruker*的電子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。Dimension®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處于行業(yè)*地位，的Dimension® Icon™是針尖掃描技術的又一次革新，配置溫度補償位置傳感器，實現(xiàn)了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平，將其應用在90微米掃描范圍的大樣品臺體系上，效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺AFM的開環(huán)噪音水平。全新設計的XYZ閉環(huán)掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時，也不會損壞圖像質量，實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。
zhong極體驗
*的傳感器設計，在閉環(huán)條件下，也能實現(xiàn)大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有*的掃描分辨率
極大地降低噪聲水平，在輕敲模式下低于30pm，接觸模式下可獲得原子級圖像
熱漂移速率低于200pm/分鐘，獲得真正的樣品圖像
高效率
XYZ閉環(huán)掃描器的*設計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率
將十年的研發(fā)經(jīng)驗融入到參數(shù)預設置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認的實驗模式。
高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置
全功能
針尖和樣品之間開放式的空間設計，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設計實驗方案，滿足不同研究工作的需求
硬件和軟件技術的不斷創(chuàng)新，新開發(fā)的HarmoniX 模式，可以測量納米尺度上材料性質
用戶實用程序腳本提供半自動測量方案和數(shù)據(jù)分析