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FEI Nova Nano SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2021/8/1 13:10:57
  • 訪問次數(shù)1451
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 上海禹重實(shí)業(yè)有限公司(以下簡(jiǎn)稱禹重科技®)是一家以服務(wù)introduce中國(guó)市場(chǎng)為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和檢測(cè)技術(shù)服務(wù)公司,下設(shè)三個(gè)事業(yè)部和一個(gè)中心,即分析儀器事業(yè)部、實(shí)驗(yàn)室服務(wù)事業(yè)部、項(xiàng)目開發(fā)部、以及中禹聯(lián)重檢測(cè)技術(shù)中心。目前除上??偛客?,我們已建立北京、沈陽(yáng)、太原、長(zhǎng)沙、廣州、青島和成都等分支機(jī)構(gòu)。為客戶提供更專業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們禹重科技®的目標(biāo)。

 

禹重科技®作為Thermo Science(賽默飛)、DIONEX(戴安)、Gilson(吉爾森)和Tekmar(泰克瑪)等品牌的核心代理商,依托(香港)亞測(cè)科技有限公司(Amicrotest Technology Limited),我們將分析測(cè)試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國(guó)內(nèi)客戶,為眾多企業(yè)和高校、科研院所以及政府機(jī)構(gòu)的產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制、合規(guī)運(yùn)營(yíng),提供成分分析儀器、表面分析儀器、自動(dòng)化樣品前處理儀器和物理力學(xué)儀器等綜合性儀器解決方案,同時(shí)提供儀器配套設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)樣品耗材的銷售,材料測(cè)試等實(shí)驗(yàn)室服務(wù)。

成分分析儀,表面分析儀,光譜儀
FEI Nova Nano SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對(duì)有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)行超高分辨表征的低真空?qǐng)霭l(fā)射掃描電子顯微鏡(FEG-SEM)。作為FEI公司市場(chǎng)的眾多設(shè)備中的一員,Nova NanoSEM為用戶在納米研究、開發(fā)與生產(chǎn)的相關(guān)工作提供了更多的可能。
FEI Nova Nano SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

FEI Nova Nano SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對(duì)有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)行超高分辨表征的低真空?qǐng)霭l(fā)射掃描電子顯微鏡(FEG-SEM)。作為FEI公司市場(chǎng)的眾多設(shè)備中的一員,Nova NanoSEM為用戶在納米研究、開發(fā)與生產(chǎn)的相關(guān)工作提供了更多的可能。 
FEI Nova Nano SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的出現(xiàn)為那些非導(dǎo)電的以及有污染的納米材料研究和們帶來了新的表征手段。與NanoSEM同時(shí)發(fā)布的FEI Helix探測(cè)技術(shù)將浸入式透鏡和低真空掃描電鏡兩種技術(shù)成功地組合在一起,這在場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的歷*還是*次。在給用戶帶來超高分辨率的同時(shí),還能在低真空環(huán)境下有效地抑制非導(dǎo)電材料的電荷積累效應(yīng)。Nova NanoSEM的這種新技術(shù)還可以有效地抑制由前道樣品處理過程所引起的電子束誘導(dǎo)污染。 
除了低真空條件下二次電子和背散射電子成像以外,Nova NanoSEM還具有浸入式透鏡的技術(shù)和FEI所*的使用電子束進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)沉積的氣體化學(xué)技術(shù),所有的這些特點(diǎn)使之成為納米結(jié)構(gòu)與納米材料是研究領(lǐng)域中zui*、的掃描電鏡
技術(shù)參數(shù)
1. 分辨率 
高真空模式 1.0nm @ 15kV 
1.8nm @ 1kV 
0.8nm @ 30kV(STEM探測(cè)器) 
低真空模式 1.5nm @ 10kV(Helix探測(cè)器) 
1.8nm @ 3kV(Helix探測(cè)器) 
2. 加速電壓 200V - 30kV,連續(xù)可調(diào) 
3. 電子束流范圍 0.3pA - 100nA, 連續(xù)可調(diào) 
4. 樣品臺(tái)移動(dòng)范圍 
Nova NanoSEM 230: X=Y=50mm 
Nova NanoSEM 430: X=Y=100mm 
Nova NanoSEM 630: X=Y=150mm
主要特點(diǎn)
1. 超高分辨率Schottky場(chǎng)發(fā)射電子槍 
2. wei一的超高分辨率低真空?qǐng)霭l(fā)射掃描電鏡. 具有高真空和低真空(<200Pa)兩種真空模式. 
3. 對(duì)容易污染、容易電荷積累的納米材料和納米器件進(jìn)行觀察和分析 
4. *無油真空系統(tǒng) 
5. 可選配電子束曝光、電子束誘導(dǎo)沉積等納米設(shè)計(jì)/加工功能 
6. FEI公司基于Windows XP的-xT用戶界面

關(guān)鍵詞:電子顯微鏡 顯微鏡
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